(UV) ve Görünür Bölge Moleküler Absorpsiyon Spektroskopisi

320
Aletli Analiz
Kendimizi S›nayal›m
1. Bir kat›n›n yüzey özellikleriyle ilgili afla¤›daki ifadelerden
hangisi yanl›flt›r?
a. Yüzey tabakas›n›n kimyasal bileflimi ile kat›n›n
iç k›s›mlar›ndaki kimyasal bileflim ayn›d›r.
b. Yüzeyde bulunan atomlar üzerine etki eden fiziksel
kuvvetler ile kat›n›n iç k›s›mlar›ndaki atomlar
üzerine etki eden kuvvetler farkl›d›r.
c. Yüzey özelliklerinin bilinmesi maddenin kimyasal
bir etkiye verece¤i tepkinin bilinmesi aç›s›ndan
önemlidir.
d. Bir malzemenin yüzey özellikleri, onun uygulama
alan›n› belirleyen önemli faktörlerdendir.
e. Yüzey tabakas›, kat›n›n en d›fl tabakas›ndan bafllay›p
iç k›s›mlara do¤ru bileflimi sürekli olarak
de¤iflen bir geçifl tabakas›d›r.
2. Yüzey karakterizasyon yöntemleri ile ilgili afla¤›daki
ifadelerden hangisi do¤rudur?
a. Optik (›fl›k) mikroskoplar kat› yüzeylerinin
topografik yap›s›n› ayd›nlatmak için yeterlidir.
b. SEM bir mikroskopik yüzey analiz yöntemidir.
c. Baz› spektroskopik yüzey analiz yöntemlerinde
uygulanan vakum, örne¤in gaz faz›na geçiflini
kolaylaflt›rmak için gereklidir.
d. Auger elektron spektroskopisi yönteminde birincil
demet olarak X-›fl›nlar› kullan›l›r.
e. ESCA yönteminde ikincil demet X-›fl›nlar›d›r.
3. Afla¤›daki ifadelerden hangisi do¤rudur?
a. Yüzey atomlar› ile etkileflen elektron daima
esnek çarp›flma yapar.
b. Esnek çarp›flma ile elektronlar›n enerjileri büyük
oranda azal›r.
c. ‹kincil elektronlar›n enerjileri geri saç›lm›fl elektronlar›n
enerjilerinden düflüktür.
d. ‹yon saç›lma spektroskopisinde birincil demet
elektronlardan oluflur.
e. ISS, atom numaras› birincil demet iyonunun
atom numaras›ndan küçük olan tüm elementlerin
tayininde kullan›labilir.
4. Afla¤›dakilerden hangisi spektrometrik yüzey analiz
tekniklerinden biri de¤ildir?
a. ESCA
b. UPS
c. ISS
d. SIMS
e. SEM
5. Afla¤›daki ifadelerden hangisi do¤rudur?
a. Elektron spektroskopik yöntemlerde ikincil
demet X-›fl›nlar›d›r.
b. Elektron spektroskopik yöntemlerle periyodik
cetveldeki tüm elementlerin nicel analizleri
yap›labilir.
c. ISS çok tabakal› yüzey analizi yapabilen bir yöntemdir.
d. Bir ISS cihaz›, yüzeyden saç›lan iyonlar›n kinetik
enerjisini ölçer.
e. Yüksek enerjili iyonlar etkilefltikleri örnek yüzeyi
ile daima esnek çarp›flma yaparlar.
6. Afla¤›dakilerden hangisi elektron mikroprob yönteminin
avantajlar›ndan biridir?
a. S›v› örnek yüzeylerinin analizinde kullan›labilmesi
b. Yüksek vakum gerektirmemesi
c. Yüzeyin iletken karakteri hakk›nda bilgi vermesi
d. Bir iyon kayna¤› gerektirmemesi
e. Örnek yüzeyini tahrip etmemesi
7. Afla¤›dakilerden hangisi STM ile AFM yöntemleri aras›ndaki
farklardan biridir?
a. AFM’de örnek yüzeyi raster düzeninde taran›rken,
STM’de tarama ifllemi rastgeledir.
b. STM’de tünelleme ak›m›n›n ölçülmesi, AFM’de
ise prob ile örnek yüzeyi aras›ndaki atomik kuvvetlerin
ölçülmesi esast›r.
c. STM ile daima vakum alt›nda analiz yap›l›rken,
AFM ile analiz s›ras›nda vakuma gerek yoktur.
d. Piezoelektrik eleman, AFM cihaz›nda yüzey tarama
sürecinde kullan›l›rken, STM cihaz›nda tünelleme
ön geriliminin oluflturulmas›nda kullan›l›r.
e. AFM’de örnek yüzeyinin iletken olmas› flartken,
STM’de böyle bir gereklilik yoktur.
8. Afla¤›dakilerden hangisi SEM ile ilgili yanl›fl bir uygulamad›r?
a. Örnek yüzeyinin raster düzeninde taranmas›.
b. Birincil demetin yüksek enerjili elektronlardan
oluflturulmas›.
c. Optik kolonun ve örnek hücresinin analiz s›ras›nda
vakum alt›nda tutulmas›
d. ‹letken olmayan örnek yüzeyinin, uygun bir metal
ile kal›n bir film tabakas› oluflturacak biçimde
kaplanmas›.
e. Örnek tutucusunun iletken bir malzeme olmas›.