05.04.2013 Views

SERWIS ELEKTRONIKI

SERWIS ELEKTRONIKI

SERWIS ELEKTRONIKI

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

Opis uk³adu pomiarowego testera<br />

Schemat ideowy testera tranzystorów polowych pokazano<br />

na rysunku 2. Napiêcie zasilaj¹ce (od 12V do 15V) jest podawane<br />

do testera poprzez gniazdko BU1. Jak widaæ na tym schemacie<br />

do punktu odniesienia BU4, do którego jest pod³¹czone<br />

Ÿród³o (Source) sprawdzanego tranzystora konieczne jest doprowadzenie<br />

dodatniego i ujemnego napiêcie (oczywiœcie nie<br />

jednoczeœnie, ale w zale¿noœci od typu tranzystora). Jest to<br />

osi¹gane w wyniku szeregowo pod³¹czenia do napiêcia pracy<br />

rezystora R3 i diody Zenera D4. Zastosowanie diody Zenera<br />

obni¿a napiêcie do 6.2V. Ró¿nica pomiêdzy tym napiêciem a<br />

napiêciem zasilaj¹cym odk³ada siê na rezystorze R3. Tak wiêc<br />

na anodzie diody D4 (punkt referencyjny BU4) otrzymuje siê<br />

napiêcie ujemne o wartoœci 6.2V, a na górnym wyprowadzeniu<br />

rezystora R3 napiêcia dodatnie o wartoœci od oko³o 6V do<br />

9V (w zale¿noœci od wartoœci napiêcia zasilaj¹cego). W zale¿noœci<br />

od ustawienia prze³¹cznika S1 (kana³ N / kana³ P) po<br />

przejœciu przez obie diody D1 i D2 oraz rezystor R2 otrzymuje<br />

siê na gniazdku BU2 (do którego jest pod³¹czany dren testowanego<br />

tranzystora) dodatnie albo ujemne napiêcie. Poniewa¿<br />

obie diody œwiec¹ce D1 i D2 s¹ po³¹czone antyrównolegle<br />

(równolegle, ale z przeciwn¹ polaryzacj¹), tylko jedna dioda<br />

œwiec¹c zawsze wskazuje kierunek przep³ywu pr¹du.<br />

Prze³¹czenie wy³¹cznika S2, zale¿nie od wybranego ustawienia<br />

prze³¹cznika S1, decyduje o tym, czy dodatnie, czy te¿<br />

ujemne napiêcie p³ynie przez rezystor R2 do gniazdka BU3,<br />

do którego jest pod³¹czana bramka testowanego tranzystora<br />

polowego. Transil D3 zabezpiecza (chroni) bramkê tranzystora<br />

przed ewentualnym przepiêciem.<br />

Monta¿<br />

Napiêcie zasilaj¹ce 12V ÷ 15V<br />

BU1<br />

C1<br />

10µF<br />

25V<br />

D4<br />

ZPD6V2<br />

Monta¿ testera tranzystorów FET jest ³atwy do wykonania<br />

nawet dla s³abo zaawansowanego elektronika. Do tego celu<br />

zosta³a zaprojektowana jednostronna p³ytka drukowana o wymiarach<br />

108mm × 53mm.<br />

Do zestawu do³¹czony jest wykaz podzespo³ów i schemat<br />

monta¿owy. Sk³adanie p³ytki rozpoczyna siê od zamontowania<br />

elementów najni¿szych, a wiêc dwóch mostków, rezystorów<br />

i diod. Oba mostki nale¿y wykonaæ ze srebrzanki. Po przylutowaniu<br />

wyprowadzeñ koñcówki nale¿y obci¹æ szczypcami<br />

bocznymi. Dla kondensatora elektrolitycznego C1, diody Ze-<br />

R3<br />

1k<br />

Kana³<br />

N<br />

S1<br />

Kana³<br />

P<br />

S2<br />

ON<br />

OFF<br />

Tester tranzystorów polowych “FET 1000”<br />

nera D4 i obu diod œwiec¹cych nale¿y zwróciæ uwagê na polaryzacjê<br />

(biegun ujemny kondensatora, anoda diody LED s¹<br />

wyró¿nione poprzez d³u¿sz¹ koñcówkê, a katoda diody Zenera<br />

poprzez pasek na obudowie przy jej wyprowadzeniu).<br />

Wysokoœæ zamontowanych diod œwiec¹cych musi wynosiæ<br />

dok³adnie 16 mm (zmierzone pomiêdzy p³ytk¹ uk³adu i<br />

górn¹ krawêdzi¹ diody LED).<br />

Przy przeznaczeniu testera do pracy bez obudowy do punktów<br />

przy³¹czeniowych wyprowadzeñ tranzystora przewody pomiarowe<br />

mog¹ byæ przy³¹czone bezpoœrednio do p³ytki drukowanej<br />

– otwory oznaczone BU2 (D), BU3 (G) i BU4 (S).<br />

Przy takim rozwi¹zaniu idealnie nadaj¹ siê krótkie przewody z<br />

przylutowanymi z jednej strony zaciskami tzw. krokodylkami.<br />

Przy przeznaczeniu testera do pracy w obudowie do tych<br />

punktów nale¿y przylutowaæ odcinki przewodów plecionych<br />

(licê) o d³ugoœci oko³o 3 cm, a ich drugie koñce do gniazdek<br />

telefonicznych (4mm), które nale¿y zamontowaæ w obudowie.<br />

Obs³uga<br />

Test<br />

D1<br />

Kana³ N<br />

D2<br />

Kana³ P<br />

R1<br />

1k<br />

R2<br />

1k<br />

D3<br />

BZW06-13B<br />

Rys.2. Schemat ideowy testera tranzystorów polowych “FET 1000”<br />

BU2<br />

D – dren<br />

BU3<br />

G – bramka<br />

BU4<br />

S –Ÿród³o<br />

Przed rozpoczêciem pracy do testera tranzystorów FET<br />

nale¿y pod³¹czyæ zasilanie od 12V do 15V z zewnêtrznego<br />

zasilacza sieciowego (maksymalny pobór pr¹du 20mA). Nastêpnie<br />

w testerze nale¿y prze³¹cznikiem S1 ustawiæ odpowiedni<br />

typ kana³u tranzystora – typ N albo P. Teraz mo¿na pod³¹czyæ<br />

testowany tranzystor. Nale¿y w tym miejscu zwróciæ<br />

uwagê na to, ¿e tranzystory MOS-FET s¹ bardzo wra¿liwe na<br />

³adunki elektrostatyczne, w szczególnoœci wra¿liwe jest wyprowadzenie<br />

bramki. Dlatego nale¿y unikaæ dotykania rêk¹ tego<br />

wyprowadzenia, a najlepiej zastosowaæ któryœ ze œrodków<br />

ochrony przeciw ³adunkom elektrostatycznym, na przyk³ad obr¹czkê<br />

uziemiaj¹c¹.<br />

W zale¿noœci od ustawienia prze³¹cznika ON/OFF (w³¹czony<br />

/ wy³¹czony) powinna zacz¹æ œwieciæ odpowiednia dioda<br />

LED N-Kanal lub P-Kanal (kana³ N albo kana³ P).<br />

Na koniec jeszcze jedna uwaga: w niektórych typach tranzystorów<br />

MOS-FET pomiêdzy Ÿród³em a drenem (w strukturze<br />

wewnêtrznej tranzystora) znajduje siê dioda ochronna, która<br />

powoduje, ¿e przy z³ym ustawieniu polaryzacji (typu kana³u)<br />

zawsze jedna z tych dwóch diod zawsze siê zaœwieci.<br />

Tester mo¿na zamówiæ w firmie APROVI – patrz kolorowe<br />

strony reklamowe. }<br />

<strong>SERWIS</strong> <strong>ELEKTRONIKI</strong> 12/2007 41

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!