Materialforschung mit Positronen: Von der Doppler-Spektroskopie zur
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0.0075<br />
(a)<br />
0.040<br />
(b)<br />
0.0070<br />
FWHM -Fe {220} [ Å ]<br />
0.0065<br />
0.0060<br />
0.0055<br />
0.0050<br />
0.0045<br />
-Fe<br />
{200}<br />
FWHM Fe C {121} [ ]<br />
3 Å<br />
0.035<br />
0.030<br />
0.025<br />
0.020<br />
0.015<br />
Fe C 3<br />
{121}<br />
1.00 1.01 1.02 1.03 1.04<br />
S-Parameter<br />
1.05<br />
1.00 1.01 1.02 1.03 1.04 1.05<br />
S-Parameter<br />
Abbildung 4.29: Korrelation zwischen S-Parameter und Halbwertsbreite eines -Fe Reflexes (a) und eines<br />
Reflexes des Zementits Fe 3 C (b).<br />
Abbildung 4.30 zeigt beispielhaft einen Vergleich zwischen <strong>Positronen</strong>daten (a) und Debye-<br />
Scherrer-Daten (b) gemessen an identischen Positionen in <strong>der</strong> Umgebung <strong>der</strong> Spitze eines<br />
Ermüdungsrisses in C45E. Beiden Messungen liegt ein Raster von 100×100 µm 2 zugrunde.<br />
Die S-Parameter Abbildung zeigt deutlich die verformten Rißwände sowie die schmetterlingsförmige<br />
plastische Zone vor <strong>der</strong> Rißspitze. Weit vor <strong>der</strong> Rißspitze wird keine Schädigung<br />
gemessen. In den Röntgendaten läßt sich <strong>der</strong> Rißverlauf nur erahnen und <strong>der</strong> undeformierte<br />
Bereich vor <strong>der</strong> Rißspitze zeigt ein deutliches Signal. Diese entsteht auf Grund <strong>der</strong> geringen<br />
Kornzahl in Meßvolumen (~900) durch unsaubere Trennung zwischen durch Plastizität hervorgerufener<br />
Linienverbreiterung und elastischer Linienverschiebung.<br />
600<br />
(a)<br />
1.05<br />
(b)<br />
0.08<br />
400<br />
Lastrichtung [μm]<br />
0<br />
S-parameter<br />
1.04<br />
1.03<br />
1.02<br />
1.01<br />
1.00<br />
FWHM {200} [Å]<br />
0.06<br />
0.04<br />
0.02<br />
0.00<br />
-400<br />
-600<br />
-500 0 500 1000<br />
Rißausbreitungsrichtung [μm]<br />
<strong>Positronen</strong><br />
Debye-Scherrer<br />
-500 0 500 1000<br />
Rißausbreitungsrichtung [μm]<br />
Abbildung 4.30: Abbildung des S-Parameters (a) und <strong>der</strong> Linienverbreiterung des {200} Reflexes des<br />
-Eisens (b) an identischen Positionen um eine Rißspitze in einer C45E Probe nach zyklischer Ermüdung<br />
in CT-Geometrie. Die gestrichelte schwarze Linie skizziert den Rißverlauf.<br />
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