10.07.2015 Views

Spektroskopia pojemnościowa wybranych defektów w ...

Spektroskopia pojemnościowa wybranych defektów w ...

Spektroskopia pojemnościowa wybranych defektów w ...

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

ówne zero. Rozpatrujemy wówczas oraz definiujemy dwa rodzaje defektów na podstawie ichwłaściwości termoemisyjnych w obszarze ładunku przestrzennego, a mianowicie pułapkinośników większościowych oraz mniejszościowych; rys. 2.3.Pułapkę nośników większościowych definiujemy jako defekt, dla którego szybkość emisjitermicznej nośników większościowychemajjest o wiele większa od odpowiedniej szybkościemisji termicznej nośników mniejszościowych e min . Pułapka nośników mniejszościowych maprzeciwną definicję, a mianowiciee 〉〉 e . Jak widać z rys. 2.3 taka definicja moŜeminmajdoprowadzić do pewnego zamieszania, gdy mamy równieŜ do czynienia z pułapką elektronową zen〉〉 e poraz z pułapką dziurową z ep〉〉 en. NaleŜy zauwaŜyć, Ŝe pułapka elektronowa jestpułapką nośników większościowych w materiale typu n oraz pułapką nośnikówmniejszościowych w materiale typu p a na odwrót jest dla pułapki dziurowej.Rys. 2.3. Definicja terminów „pułapka nośników mniejszościowych” i „pułapka nośnikówwiększościowych” (kolumny pionowe) oraz „pułapka elektronowa” i „pułapka dziurowa”(wiersze poziome). Strzałkami o róŜnej szerokości pokazane są szybkości emisji termicznejnośników: e n oraz e p ; według [19].następujący:Szybkość emisji termicznej elektronów do pasma przewodnictwa wyraŜa się w sposób18

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!