Spektroskopia pojemnościowa wybranych defektów w ...

F ⊥ (111)AT=180KF ⊥ (111)BT=180Ke n(s -1 )10 010 1 (a)170Ke n(s -1 )10 010 1 (b)170K160K160K10 -1250 300 350 400 450F 1/2 ([V/cm] 1/2 )10 -1280 320 360 400F 1/2 ([V/cm] 1/2 )F ⊥ (110)F ⊥ (100)e n(s -1 )10 110 010 -110 2 T=180K170K160K(c)300 360 420 480F 1/2 ([V/cm] 1/2 )e n(s -1 )10 110 010 2 T=180K170K160K(d)320 400 480 560F 1/2 ([V/cm] 1/2 )Rys. 4.9. ZaleŜności szybkości emisji termicznej od pierwiastka z natęŜenia pola elektrycznegodla róŜnych temperatur dla defektu EL5, zmierzone w próbkach o róŜnych orientacjach,pokazanych na poszczególnych wykresach. Linią przerywaną pokazano wpływ polaelektrycznego na szybkość emisji według mechanizmu Poole’a-Frenkela z uwzględnieniemmodelu Hartke’ego.W odróŜnieniu, zwiększenie szybkości emisji termicznej elektronów jest znaczniesilniejsze dla wektora pola elektrycznego przyłoŜonego wzdłuŜ kierunków 〈110〉 oraz 〈100〉; rys.4.9 (c, d). Dla tych dwóch przypadków otrzymane wyniki wskazują na występowaniemechanizmu tunelowania z udziałem fononów. Dowodem tego są wyniki zaleŜności szybkościemisji termicznej elektronów od kwadratu pola elektrycznego, przedstawione na rys. 4.10, gdzieliniami przerywanymi pokazano dopasowanie zaleŜności (3.18) dla mechanizmu tunelowania zudziałem fononów do danych doświadczalnych, z parametrami dopasowania: e (0 n) oraz Fc.57