Spektroskopia pojemnościowa wybranych defektów w ...

∆ C( t)= ∆C(0)exp(−et), (2.20)ngdzie∆ C – niestacjonarna zmiana pojemności złącza Schottky’ego, ∆ C(0)jest zmianąpojemności w chwili początkowej, zaleŜną od amplitudy i czasu trwania impulsu zapełniającego.Rys. 2.4. Schematyczne przedstawienieprzeładowania głębokiego poziomu; według [23].Rys. 2.5. Czasowe zmiany pojemności złącza dlapułapek większościowych, wskutek impulsowejzmiany napięcia polaryzacji; według [23].Podobne zmiany pojemności zachodzą równieŜ w złączach p-n, jednak układ ten jestbardziej skomplikowany. W złączu p-n, przykładając napięcie w kierunku zaporowym bądź wkierunku przewodzenia prądu, moŜna zwiększać lub zmniejszać obszar ładunku przestrzennego,i w ten sam sposób zmieniać zapełnianie głębokich pułapek nośnikami większościowymi orazmniejszościowymi. W procesie emisji nośników większościowych do pasma macierzystego21