10.07.2015 Views

Spektroskopia pojemnościowa wybranych defektów w ...

Spektroskopia pojemnościowa wybranych defektów w ...

Spektroskopia pojemnościowa wybranych defektów w ...

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

wydajność rekombinacji promienistej w tych diodach jest wynikiem mikrofluktuacji zawartościindu w warstwach InGaN. Powoduje to lokalizację par elektron-dziura w mikroobszarach owiększej zawartości indu, które nie docierają do dyslokacji. Jednak w diodach laserowych – przywysokich poziomach wstrzykiwania nośników – dyslokacje stają się aktywnymi centramirekombinacji niepromienistej i zabijają emisję światła. Ponadto dyslokacje rozpraszają światło,które podróŜując w krysztale musi ulec wzmocnieniu, by wystąpiła akcja laserowa. DuŜa gęstośćdyslokacji prowadzi teŜ do zwiększonej dyfuzji atomów i, w konsekwencji, do degradacji lasera,skracając okres jego pracy. Jest oczywiste, Ŝe identyfikacja oraz zbadanie właściwości defektówwystępujących w heterostrukturach azotkowych ma zasadnicze znaczenie dla poprawytechnologii i wydajności przyrządów na bazie GaN.W tym rozdziale będą przedstawione wyniki badań głębokich poziomów defektowychprzy uŜyciu techniki DLTS w wytworzonej w Instytucie Wysokich Ciśnień na bazie azotku galuheterostrukturze fioletowo- niebieskiej diody laserowej, hodowanej metodą epitaksji z wiązekmolekularnych z plazmowym źródłem azotu (ang.: plasma assisted molecular beamepitaxy (PAMBE)). Oprócz wyznaczenia podstawowych parametrów defektów, uzyskiwanychtechniką DLTS: energii aktywacji, koncentracji oraz przekrojów czynnych na wychwytelektronów i dziur, dodatkową informację o strukturze defektów moŜna otrzymać z zaleŜnościamplitudy sygnału DLTS od czasu trwania impulsu zapełniającego. Uzyskanie tych zaleŜnościdaje moŜliwość rozróŜnienia między głębokimi poziomami związanymi z izolowanymidefektami punktowymi a poziomami związanymi z defektami rozciągłymi takimi jak dyslokacje.5.1. Analiza kinetyki wychwytu nośników ładunku.WaŜną właściwością głębokich pułapek związanych z defektami rozciągłymi, takimi jakdyslokacje, która pozwała rozróŜnić je od pułapek związanych z defektami punktowymi, jestlogarytmiczna kinetyka wychwytu nośników ładunku na głębokie stany pułapkowe. Takalogarytmiczna kinetyka była po raz pierwszy obserwowana eksperymentalnie w badaniachfotoprzewodnictwa plastycznie deformowanego germanu oraz krzemu i wyjaśniona wbarierowym modelu rekombinacji nośników ładunku przez centra dyslokacyjne,zaproponowanym przez T. Figielskiego [11]. Kinetyka ta wynika z oddziaływaniaCoulombowskiego między nośnikami ładunku, które właśnie są wychwytywane na stanydyslokacyjne a nośnikami, które juŜ zostały wychwycone wzdłuŜ linii dyslokacji. Oddziaływanieto prowadzi do powstania elektrostatycznej bariery potencjału wokół naładowanej elektrycznie64

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!