Spektroskopia pojemnościowa wybranych defektów w ...

[78] C. Skierbiszewski, P. Perlin, I. Grzegory, Z.R. Wasilewski, M. Siekacz, A. Feduniewicz, P.Wiśniewski, J. Borysiuk, P. Prystawko, G. Kamler, T. Suski, S. Porowski, Semicond. Sci.Technol. 20, 809 (2005).[79] P. Perlin, T. Suski, M. Leszczyński, P. Prystawko, T. Świetlik, Ł. Marona, P. Wiśniewski,R. Czernecki, G. Nowak, J. L. Weyher, G. Kamler, J. Borysiuk, E. Litwin-Staszewska,L. Dmowski, R. Piotrzkowski, G. Franssen, S. Grzanka, I. Grzegory, S. Porowski, J. Cryst.Growth 281, 107 (2005).[80] G. Kamler, J. Smalc, M. Woźniak, J. L. Weyher, R. Czernecki, G. Targowski,M. Leszczyński, I. Grzegory, S. Porowski, J. Cryst. Growth 293, 18 (2006).[81] O. Yastrubchak, T. Wosiński, A. Mąkosa, T. Figielski, S. Porowski, I. Grzegory, R.Czernecki, P. Perlin, Phys. Stat. Sol. C 4, 2878 (2007).[82] H. K. Cho, K. S. Kim, C.-H. Hong, H. J. Lee, J. Cryst. Growth 223, 38 (2001).[83] H. K. Cho, C. S. Kim, C.-H. Hong, J. Appl. Phys. 94, 1485 (2003).[84] P. Hacke, T. Detchprohm, K. Hiramatsu, N. Sawaki, K. Tadatomo, K. Miyake, J. Appl.Phys. 76, 304 (1994).[85] D. Haase, M. Schmid, W. Kürner, A. Dörnen, V. Härle, F. Scholz, M. Burkard, H.Schweizer, Appl. Phys. Lett. 69, 2525 (1996).[86] D. W. Jenkins, J. D. Dow, Phys. Rev. B 39, 3317 (1989).[87] H. M. Chung, W. C. Chuang, Y. C. Pan, C. C. Tsai, M. C. Lee, W. H. Chen, W. K. Chen,C. I. Chiang, C. H. Lin, H. Chang, Appl. Phys. Lett. 76, 897 (2000).[88] T. Tsarova, T. Wosiński, A. Mąkosa, C. Skierbiszewski, I. Grzegory, P. Perlin, Acta Phys.Polon. A 112, 331 (2007).[89] C. G. Van de Walle, J. Neugebauer, J. Appl. Phys. 95, 3851 (2004).[90] K. Laaksonen, M. G. Ganchenkova, R. M. Nieminen, J. Phys.: Condens. Matter 21, 015803(2009).[91] C.H. Park, D.J. Chadi, Phys. Rev. B 55, 12995 (1997).85