Stabilität von Sr(Ti0.65,Fe0.35)O3-δ - am IWE
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3.3 Versuche zur chemischen Stabilität 21<br />
Bild 3-6 Ungealterte STF-Ker<strong>am</strong>ik<br />
Bild 3-7 Ausgelagerte STF-Ker<strong>am</strong>ik<br />
(Versuch 2)<br />
Bild 3-8 Gealterte STF-Ker<strong>am</strong>ik (Versuch 6)<br />
Bild 3-9 Bruchfläche; während der Alterung<br />
gebrochen<br />
3.3.3 XRD und Rietveld Refinement<br />
XRD steht für X-Ray Diffraction. Es wurde das Siemens D5000 verwandt 5 .<br />
Monochromatische Röntgenstrahlung wird <strong>am</strong> Kristall reflektiert. Die Reflexe bilden ein materialspezifisches,<br />
charakteristisches Spektrum, so dass man anhand der Reflexe Auskunft<br />
über die Probenzus<strong>am</strong>mensetzung erhält. Genauer ist das Messprinzip in [2] dargestellt.<br />
Mittels Rietveld Refinement wird aus dem gemessenen Spektrum eine Kristallstruktur errechnet,<br />
deren theoretische Peaks möglichst gut mit dem realen Gitter übereinstimmen.<br />
Normalerweise bezieht ein Rietveld Refinement die Gitterpar<strong>am</strong>eter (a,b,c,α,β,γ), die Millerschen<br />
Indizes (h,k,l), das Braggsche Reflexionsgesetz und die Strukturfaktoren F(h,k,l), die<br />
5 Zur Aufnahme aller Röntgendiffraktogr<strong>am</strong>me wurde verwandt: Siemens D500-Diffraktometer, Quelle: CuKα 1 ,<br />
CuKα 2 (Peaks wurden mit Software nachträglich entfernt), Beschleunigungsspannung 40 kV, Strahlstrom 30<br />
mA, Blende V6, step size 1s, step 0,0142814°, scan type locked coupled
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