12005/07 ADD 1 us DG E CONSIGLIO DELL'UNIONE ... - Senato.it
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3A232 (segue)<br />
Nota tecnica:<br />
in 3A232 i detonatori in esame utilizzano tutti un piccolo conduttore elettrico (ponte, filo o lamina) che<br />
vaporizza in modo esplosivo quando viene attraversato da un impulso elettrico rapido ad alta intens<strong>it</strong>à.<br />
Nei tipi non a slapper, il conduttore che esplode innesca una detonazione chimica in un materiale<br />
altamente esplosivo al contatto come il PETN (pentr<strong>it</strong>e). Nei detonatori a slapper la vaporizzazione in<br />
modo esplosivo di un conduttore elettrico spinge una lamina mobile (flyer) o uno slapper attraverso un<br />
varco e l'impatto dello slapper su di un esplosivo innesca la detonazione chimica. Lo slapper in alcune<br />
realizzazioni è azionato dalla forza magnetica. Il termine detonatore a lamina esplodente può riferirsi sia<br />
ad un detonatore EB che di tipo a slapper. Anche il termine innesco è <strong>us</strong>ato a volte al posto della parola<br />
detonatore.<br />
3A233 Spettrometri di massa, diversi da quelli specificati in 0B002.g, in grado di misurare ioni di un<strong>it</strong>à di massa<br />
atomica uguale o superiore a 230 ed aventi una risoluzione migliore di 2 parti su 230, come segue, e loro<br />
sorgenti di ioni:<br />
a. spettrometri di massa a plasma ad accoppiamento induttivo (ICP/MS);<br />
b. spettrometri di massa con scarica a bagliore (GDMS);<br />
c. spettrometri di massa a ionizzazione termica (TIMS);<br />
d. spettrometri di massa a bombardamento di elettroni aventi una camera sorgente costru<strong>it</strong>a, placcata<br />
o rivest<strong>it</strong>a con materiali resistenti all'UF6;<br />
e. spettrometri di massa a fascio molecolare aventi una delle caratteristiche seguenti:<br />
1. camera sorgente costru<strong>it</strong>a, placcata o rivest<strong>it</strong>a con acciaio inossidabile o molibdeno ed<br />
equipaggiati con una trappola a freddo in grado di raffreddare ad una temperatura uguale o<br />
inferiore a 193 K (-80°C) o<br />
2. camera sorgente costru<strong>it</strong>a, placcata o rivest<strong>it</strong>a con materiali resistenti all'UF6;<br />
f. spettrometri di massa equipaggiati con una sorgente ionica di microfluorurazione progettati per<br />
attinidi o fluoruri di attinidi.<br />
3B Apparecchiature di collaudo, di ispezione e di produzione<br />
3B001 Apparecchiature per la fabbricazione di dispos<strong>it</strong>ivi o di materiali semiconduttori, come segue, e loro<br />
componenti ed accessori appos<strong>it</strong>amente progettati:<br />
a. apparecchiature progettate per la cresc<strong>it</strong>a ep<strong>it</strong>assiale, come segue:<br />
1. apparecchiature in grado di realizzare uno strato di qualsiasi materiale diverso dal silicio<br />
con unform<strong>it</strong>à di spessore entro ±2,5% lungo una distanza di 75 mm o più;<br />
2. reattori di depos<strong>it</strong>o in fase di vapore di elementi chimici organo-metallici (MOCVD)<br />
appos<strong>it</strong>amente progettati per la cresc<strong>it</strong>a di cristalli semiconduttori composti mediante<br />
reazione chimica tra materiali specificati in 3C003 o 3C004;<br />
3. apparecchiature di cresc<strong>it</strong>a ep<strong>it</strong>assiale a fascio molecolare che utilizzano sorgenti gassose o<br />
solide;<br />
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ALLEGATO I IT