2005/2006 - Teknisk-naturvetenskapliga fakulteten - Uppsala ...

UPPSALA UNIVERSITET STUDIEHANDBOK 2005/2006Uppsala tekniska högskolaCivilingenjörsprogrammenKursplanerMaterialanalys, 5 poängMaterials Analysis1KE737Kursplanen är fastställd 2002-04-27 av teknisk- naturvetenskapliga fakultetsnämnden och senastreviderad 2004-04-28 av teknisk- naturvetenskapliga fakultetsnämndenKursens placering i utbildningsprogram Civilingenjörsprogrammet i kemiteknikStudieperiod: Kursen ges i period 43Mål för utbildningen Efter fullgjord kurs ska studenten kunna:- Förstå uppbyggnad och kunna teorin bakom följande materialanalytiska tekniker:svepelektronmikroskopi, energidispersiv röntgenspektroskopi, transmissionselektronmikroskopi,augerelektronspektroskopi, fotoelektronspektroskopi, plasmaoptisk emissionsspektroskopi,Rutherford backscattering och ramanspektroskopi. Ett viktigt inslag i kursen är att förståfördelar respektive nackdelar med respektive teknik.Dessutom ska studenten kunna:- Hantera ett svepelektronmikroskop och optimera mikroskopet med avseende på högstaupplösning, största skärpedjup eller för energidispersiv röntgenspektroskopi.- Göra en kvalitativ och kvantitativ haltbestämmning av ett okänt prov.- Hantera ett transmissionselektronmikroskop och kunna avbilda ett prov i ljusfält och mörkfält.- Redogöra för enklare kristallografiska egenskaper hos ett prov med hjälp avelektrondiffraktion.- Hantera och använda en fotoelektronspektrometer och en augerlektronspektrometer för attbestämma sammansättning hos ytor samt för att mäta tjockleken på en tunn oxidfilm.- Hantera ett atomkraftsmikroskop och avbilda ytan av ett okänt prov.- Lösa upp ett fast prov och analysera provet kvantitativt våtkemiskt med hjälp av plasmaoptiskaemissionstekniker.- Analysera ett okänt prov med avseende på sammansättning, mikrostruktur och kristallografi.Kursens innehållExempel på tekniker som tas upp är transmissionselektronmikroskop (TEM),svepelektronmikroskopi (SEM, ESEM), atomkraftsmikroskopi (AFM), EnergidispersivRöntgenspektroskopi (EDS), Fotoelektronspektroskopi (XPS), Augerelektronspektroskopi(AES), Rutherford tillbakaspriddspektroskopi (RBS), Plasmaoptisk emissionsspektroskopi(GDOES) och masspektroskopi (MS, SIMS).Kommunikationsträning är integrerad i kursen och studenterna får särskilt :- träna att söka efter information i litteratur och på Internet för att läsa in och förstå enanalysteknik.- träna att presentera den valda tekniken skriftligt och muntligt.- göra studiebesök till ett universitet eller företag som har den valda tekniken (om den inte finnspå Ångströmlaboratoriet).Laborationer: TEM, SEM, EDS, AES, XPS.Demonstrationer: AtomkraftsmikroskopiSärskild behörighet Materialfysik 7 p eller Fasta tillståndets fysik I 5 p samt Ytvetenskap ochtunnfilmsteknik 5 p eller motsv.Undervisningsform Föreläsningar, lektioner, laborationer, enskilt arbete.Examinationsform Skriftligt prov vid kursens slut. Under kursen delas ett okänt prov ut somskall analyseras och karakteriseras. Redovisning sker vid slutet av kursen som en skriftlig ochmuntlig rapport. Laborationer och enskilt arbete är poängsatt till 2 poäng.Betyg: Något av betygen underkänd (U), godkänd (3), icke utan beröm godkänd (4) och medberöm godkänd (5).Kurslitteratur Kompendier.Nivå: Kursen ges på C-nivåÄmne: Kursen ges inom huvudämnet Kemi och inom huvudämnet TeknikKursansvarig institution Institutionen för materialkemi320