2005/2006 - Teknisk-naturvetenskapliga fakulteten - Uppsala ...

UPPSALA UNIVERSITET STUDIEHANDBOK 2005/2006Uppsala tekniska högskolaCivilingenjörsprogrammenKursplanerYtavbildning, 3 poängSurface characterization1TG130Kursplanen är fastställd 2001-06-01 av teknisk- naturvetenskapliga fakultetsnämnden och senastreviderad 2005-05-30 av teknisk- naturvetenskapliga fakultetsnämndenKursens placering i utbildningsprogramKursen ges inom civilingenjörsprogrammet i teknisk fysik med materialvetenskapStudieperiod: Kursen ges i period 32Mål för utbildningen Efter fullgjord kurs skall studenten kunna:• Jämföra prestanda, t ex vad gäller upplösning eller mätområde, för olika tekniker föravbildning och mätning av ytor.• Motivera val av metod för avbildning och/eller mätning av olika typer av ytor utifrån givenfrågeställning.• Definiera vanliga ytfinhetsparametrar, samt analysera mätresultat för olika ytor bestämda medolika mätmetoder.• Beskriva uppbyggnaden av och principen för avbildning med olika typer avsvepelektronmikroskop (SEM).• Beskriva principen för avbildning och profilmätning med optiska metoder, såsomljusmikroskop, interferensmikroskop och konfokalmikroskop.• Beskriva principen för instrument och avbildning med svepspetsmikroskop, specielltsveptunnelmikroskop (STM) och atomkraftsmikroskop (AFM).• Förklara avbildningens eller mätningens kvalitet utifrån växelverkan mellan prob(elektronstråle, ljusstråle eller nål) och provyta och instrument-inställningar.• Använda ett enklare SEM.I kursen får studenterna dessutom träna muntlig redovisning.Kursens innehåll Tekniker för avbildning och mätning av ytor. Beskrivning av ytor medytfinhetsparametrar. Ljusoptisk mikroskopi (LOM), svepelektronmikroskopi (SEM),svepspetsmikroskopi (främst STM och AFM). Optiska metoder för ytprofilometri:Konfokalmikroskopi och Interferensmikroskopi. Ytprofilometri med mekaniska släpnålar.Jämförelse mellan olika tekniker.Laborationer: Praktiska övningar med SEM, ljusmikroskop, AFM samt optisk ytprofilmätare.Totalt 3-4 dagar.Särskild behörighet Vågrörelselära. Matematisk statistikUndervisningsform Föreläsningar och laborationer.Examinationsform Skriftlig tentamen vid kursens slut. Godkända laborationer.Betyg Något av underkänd (U), godkänd (3), icke utan beröm godkänd (4) eller med berömgodkänd (5).Övriga föreskrifter Kursen överlappar delvis kursen Materialanalys, 1TG060, och kan ejanvändas i en examen samtidigt med denna.KurslitteraturS. Hogmark, S. Jacobson och Å. Kassman-Rudolphi, Svepelektronmikroskopi i praktik ochteori. Utdelat kompendiematerial.Nivå Kursen ges på C-nivåÄmne Kursen ges inom huvudämnet TeknikKursansvarig institution Institutionen för teknikvetenskaper492