03.12.2015 Views

Bazele Teoretice ale Tratamentelor Termice

Înţelegerea principiilor ce stau la baza regimurilor termice aplicate oţelurilor carbon şi slab aliate serveşte, de cele mai multe ori, la formarea unei imagini corecte şi de ansamblu asupra aplicării tratamentelor termice asupra altor aliaje metalice.

Înţelegerea principiilor ce stau la baza regimurilor termice aplicate oţelurilor carbon şi slab aliate serveşte, de cele mai multe ori, la formarea unei imagini corecte şi de ansamblu asupra aplicării tratamentelor termice asupra altor aliaje metalice.

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

METODE DE STUDIU A TRANSFORMĂRILOR STRUCTURALE 23<br />

În funcţie de problema studiată, utilizarea unuia sau alteia dintre<br />

metodele prezentate este mai mult sau mai puţin recomandată. În acest<br />

capitol se dau câteva detalii despre fiecare dintre ele şi se insistă pe analiza<br />

metalografică şi dilatometrică, care sunt cele două metode de bază pentru<br />

studiul fenomenelor metalurgice puse în evidenţă în cursul tratamentelor<br />

termice.<br />

2. 1 Difracţia cu raze X<br />

Lungimea de undă a razelor X este de acelaşi ordin de mărime cu<br />

parametrii reţelei cristaline. Difracţia (reflexia) razelor X, de către atomii<br />

situaţi în plane cristalografice par<strong>ale</strong>le, are loc numai dacă este satisfăcută<br />

legea lui Wulff-Bragg:<br />

n·λ=2·d·sinθ (2.1)<br />

în care: d este distanţa dintre planele par<strong>ale</strong>le cele mai apropiate;<br />

θ - unghiul de incidenţă al razei cu planul atomic;<br />

λ - lungimea de undă a razelor;<br />

n - ordinul difracţiei.<br />

Studiul structurii fine a materi<strong>ale</strong>lor metalice cu ajutorul difracţiei,<br />

care se mai numeşte şi radiocristalografie, permite măsurarea precisă a<br />

parametrilor reţelei cristaline, identificarea şi măsurarea cantitativă a fazelor<br />

cristaline. Fiecare fază cristalină produce spectre de difracţie caracteristice<br />

naturii s<strong>ale</strong>.<br />

Fiecare spectru constă dintr-o succesiune de maxime corespunzând<br />

fiecare unei familii de plane atomice ( hkl ). Metoda cea mai<br />

cunoscută este metoda Debye – Scherrer , care se aplică materi<strong>ale</strong>lor<br />

policristaline sau pulberilor şi utilizează o cameră de difracţie cilindrică cu<br />

filmul pe peretele lateral şi cu proba de formă cilindrică aşezată pe axa<br />

camerei. Razele X difractate sunt înregistrate pe filmul fotografic sub forma<br />

unor linii - arce de cerc , perechi două câte două. Se identifică distanţele<br />

interplanare d (relaţia 2.1) pentru probă, care sunt apoi comparate cu cele<br />

aflate pe fişe ASTM, obţinute pornind de la faze pure sau izolate. O altă<br />

metodă, metoda difractometrică face apel la tehnica goniometrică: razele X<br />

sunt detectate ca poziţie unghiulară şi ca intensitate cu ajutorul unui contor<br />

Geiger – Müller proporţional sau prin scintilaţie. Se poate, de asemenea,

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!