Elektronenmikroskopische Untersuchungen des Polymer/Mineral ...

16 3 Grundlagen
Fokussierung des Elektronenstrahls genutzt wird. Elektronen, die sich mit der Ladung e
und einer Geschwindigkeit v annähernd parallel zur optischen Achse durch solch ein
Magnetfeld B bewegen, erfahren die Lorentzkraft F = e(v × B). Da diese Kraft senkrecht
zum Geschwindigkeitsvektor der Elektronen wirkt, werden die Elektronen auf einer
Schraubenbahn zur optischen Achse gelenkt [33]. Es kommt daher bei unterschiedlichen
Vergrößerungsstufen, d.h. bei verschiedenen Anregungsstärken der Linsen, zu Drehungen
des Bildes. Die Inhomogenität des Magnetfeldes der Linsen bewirkt eine Ablenkung
der Elektronen in Richtung der optischen Achse und hat somit einen fokussierenden Effekt.
Abb. 10: Schematischer Aufbau eines Transmissions- Elektronenmikroskops. (a) Abbildungs-
modus für den Fall einer Hellfeldabbildung, (b) Beugungsbildmodus.
Hinter der Anode folgt ein System aus zwei Kondensorlinsen, das zum einen eine Fo-
kussierung des divergenten Elektronenstrahls und zum anderen eine Einstellung des
Strahldurchmessers und somit der Größe des ausgeleuchteten Probenbereichs erlaubt. Die
C2 - Blende begrenzt die Trajektorien der Elektronen und beschränkt somit die Anzahl
der die Probe erreichenden und zur Bildentstehung beitragenden Elektronen.
Die Probe befindet sich zwischen der zweiteilig ausgeführten Objektivlinse (daher die