Elektronenmikroskopische Untersuchungen des Polymer/Mineral ...
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3.1 Transmissions-Elektronenmikroskopie 29<br />
die Objektivlinse auf die Probe fokussiert und darüber gerastert. Anders als in einem<br />
SEM (scanning electron microscope) durchqueren die Elektronen die Probe und wer-<br />
den dahinter detektiert. Zur Signalaufnahme wird ein HAADF (high angle annular dark<br />
field)-Detektor verwendet. Eine schematische Darstellung der Anordnung ist in Abb. 23<br />
gezeigt. Die Intensität <strong>des</strong> detektierten Signals ist wie soeben beschrieben stark von der<br />
Ordnungszahl Z der Probenatome abhängig.<br />
Abb. 23: Schematische Dar-<br />
stellung der Anordnung zur<br />
Erzeugung einer Z -Kontrast<br />
Aufnahme. Im STEM-<br />
Modus wird der konvergente<br />
Elektronenstrahl über die<br />
Probe gerastert. Das Signal<br />
der unter großem Winkel<br />
gestreuten Elektronen wird<br />
mit einem HAADF -Detektor<br />
aufgenommen.<br />
Da die unter großem Winkel gestreuten Elektronen detektiert werden, erscheinen Proben-<br />
bereiche mit massereichen Atomen in der Abbildung heller. Analog erscheinen Bereiche,<br />
die leichte oder keine Atome enthalten dunkler. In [37] wird außerdem erläutert, dass<br />
Streuung unter einem großen Winkel von inkohärenter, thermisch diffuser Streuung domi-<br />
niert wird. Es herrscht daher keine Phasenbeziehung zwischen den inkohärenten Streuwel-<br />
len. Dies bedeutet unter anderem, dass die Streuintensität keine periodische Abhängigkeit<br />
von der Probendicke und dem Defokus besitzt [33]. Es kommt also zu keiner Kontrastum-<br />
kehr. Mit Z - Kontrast erstellte Bilder sind folglich direkter interpretierbar als die auf<br />
Phasenkontrast beruhenden.<br />
3.1.5 Experimentelles Vorgehen am TEM<br />
Für den Großteil der transmissions-elektronenmikroskopischen <strong>Untersuchungen</strong> wurde<br />
ein CM20 UT der Firma Philips verwendet, welches bei einer Beschleunigungsspannung<br />
von 200 kV betrieben wurde. Das Vakuum im Bereich der Probe kann über eine Kühlfalle<br />
verbessert werden. Dafür wurden die außen am Mikroskop zugängigen Kupferdrähte mit<br />
flüssigem Stickstoff gekühlt.<br />
Über eine Variation <strong>des</strong> ” spotsize“ - Wertes lässt sich die Anregung der C1 - Kondensorlinse<br />
regeln. Je höher der “spotsize“ - Wert gewählt wird, <strong>des</strong>to geringer ist die Elektronen-<br />
strahlintensität. Bei den Messungen wurde eine ” spotsize“ von drei oder vier gewählt,<br />
um Strahlschädigungen an den untersuchten Perlmuttproben nach Möglichkeit ein-<br />
zudämmen. Die Objektivblende wurde nur bei Bedarf (Hell-, Dunkelfeldaufnahmen,