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Elektronenmikroskopische Untersuchungen des Polymer/Mineral ...

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3.1 Transmissions-Elektronenmikroskopie 29<br />

die Objektivlinse auf die Probe fokussiert und darüber gerastert. Anders als in einem<br />

SEM (scanning electron microscope) durchqueren die Elektronen die Probe und wer-<br />

den dahinter detektiert. Zur Signalaufnahme wird ein HAADF (high angle annular dark<br />

field)-Detektor verwendet. Eine schematische Darstellung der Anordnung ist in Abb. 23<br />

gezeigt. Die Intensität <strong>des</strong> detektierten Signals ist wie soeben beschrieben stark von der<br />

Ordnungszahl Z der Probenatome abhängig.<br />

Abb. 23: Schematische Dar-<br />

stellung der Anordnung zur<br />

Erzeugung einer Z -Kontrast<br />

Aufnahme. Im STEM-<br />

Modus wird der konvergente<br />

Elektronenstrahl über die<br />

Probe gerastert. Das Signal<br />

der unter großem Winkel<br />

gestreuten Elektronen wird<br />

mit einem HAADF -Detektor<br />

aufgenommen.<br />

Da die unter großem Winkel gestreuten Elektronen detektiert werden, erscheinen Proben-<br />

bereiche mit massereichen Atomen in der Abbildung heller. Analog erscheinen Bereiche,<br />

die leichte oder keine Atome enthalten dunkler. In [37] wird außerdem erläutert, dass<br />

Streuung unter einem großen Winkel von inkohärenter, thermisch diffuser Streuung domi-<br />

niert wird. Es herrscht daher keine Phasenbeziehung zwischen den inkohärenten Streuwel-<br />

len. Dies bedeutet unter anderem, dass die Streuintensität keine periodische Abhängigkeit<br />

von der Probendicke und dem Defokus besitzt [33]. Es kommt also zu keiner Kontrastum-<br />

kehr. Mit Z - Kontrast erstellte Bilder sind folglich direkter interpretierbar als die auf<br />

Phasenkontrast beruhenden.<br />

3.1.5 Experimentelles Vorgehen am TEM<br />

Für den Großteil der transmissions-elektronenmikroskopischen <strong>Untersuchungen</strong> wurde<br />

ein CM20 UT der Firma Philips verwendet, welches bei einer Beschleunigungsspannung<br />

von 200 kV betrieben wurde. Das Vakuum im Bereich der Probe kann über eine Kühlfalle<br />

verbessert werden. Dafür wurden die außen am Mikroskop zugängigen Kupferdrähte mit<br />

flüssigem Stickstoff gekühlt.<br />

Über eine Variation <strong>des</strong> ” spotsize“ - Wertes lässt sich die Anregung der C1 - Kondensorlinse<br />

regeln. Je höher der “spotsize“ - Wert gewählt wird, <strong>des</strong>to geringer ist die Elektronen-<br />

strahlintensität. Bei den Messungen wurde eine ” spotsize“ von drei oder vier gewählt,<br />

um Strahlschädigungen an den untersuchten Perlmuttproben nach Möglichkeit ein-<br />

zudämmen. Die Objektivblende wurde nur bei Bedarf (Hell-, Dunkelfeldaufnahmen,

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