Elektronenmikroskopische Untersuchungen des Polymer/Mineral ...

34 3 Grundlagen
des eingestellten Winkels in den Objektraum transferiert. Durch die Superposition der
rückprojizierten Bilder bei unterschiedlichen Winkeln erhält man eine gute Vorstellung
von der Form des untersuchten Objektes.
Abb. 25: Schematische Darstellung der tomographischen Datenaufzeichnung und Rekonstruk-
tion. (a) Es werden für möglichst viele verschiedene Verkippungswinkel der Probe Projek-
tionen aufgenommen. (b) Die einzelnen Projektionen werden in ein gemeinsames Volumen
rückprojiziert. Adaptiert aus [42].
Abb. 26: Bildprojektionen
werden unter Berücksich-
tigung des Kippwinkels der
Probe in den Objektraum
transferiert.
Bei der Rekonstruktion der Tomographiedaten treten zwei Fehlerquellen auf, die im
Folgenden erläutert werden.
Fehlender ” Keil“
Abb. 27 zeigt die schematische Seitenansicht einer von Elektronen durchstrahlten Probe.
Die Probe ist für verschiedene Verkippungswinkel eingezeichnet. Die Beschränkung des
maximalen Kippwinkels auf ±70 ◦ führt zu einem ” Keil“, der keine Informationen liefert.
Diese Dateneinbuße wird besonders bei Strukturen, die parallel zu der Probennormalen
stehen, bemerkbar. Sie werden nicht oder nur ansatzweise in der Bildrekonstruktion