Elektronenmikroskopische Untersuchungen des Polymer/Mineral ...
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3.1 Transmissions-Elektronenmikroskopie 31<br />
3.1.6 Chemische Analytik<br />
In diesem Abschnitt werden einige Methoden behandelt, die eine Untersuchung der che-<br />
mischen Zusammensetzung einer Probe ermöglichen. Ebenso wie Z - Kontrast Untersu-<br />
chungen werden diese Messungen im STEM-Modus durchgeführt.<br />
3.1.6.1 Elektronenenergieverlustanalytik<br />
EELS<br />
Eine Möglichkeit, Informationen über die chemische Zusammensetzung einer Probe zu<br />
erhalten, ist die Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS: electron energy loss spec-<br />
troscopy). Sie liefert die Energieverteilung der Elektronen, die mit der Probe wechsel-<br />
gewirkt haben. Die Signalintensität I wird gegen den Energieverlust E aufgetragen. Das<br />
Spektrum zeigt gewöhnlich einen kontinuierlich abfallenden ” Hintergrund“, der von Spek-<br />
trallinien überlagert wird. Bei E =0eV tritt das höchste Maximum <strong>des</strong> Spektrums auf.<br />
Dieses wird ” zero - loss peak“ genannt und beinhaltet ungestreute Elektronen und Elektro-<br />
nen, die zwar mit der Probe wechselgewirkt haben, jedoch ohne signifikanten Energiever-<br />
lust 10 . Der übrige Teil <strong>des</strong> Spektrums umfasst Elektronen, die einen Energieverlust durch<br />
Interaktion (inelastische Streuung) mit der Probe erfahren haben [39]. Die erscheinenden<br />
Spektrallinien sind charakteristisch für den Auftritt bestimmter inelastischer Streuprozes-<br />
se oberhalb einer Energie E, die zu einer Ionisation innerer Schalen der Atome führen.<br />
Diese Ionisationsenergie ist signifikant für die unterschiedlichen Elemente und gibt daher<br />
Auskunft über die Zusammensetzung der Probe.<br />
In einem EELS-Spektrum, das an einer ausreichend dünnen Probenstelle aufgenommen<br />
wurde, entspricht je<strong>des</strong> spektrale Merkmal einem anderen Anregungsprozess [40]. In dicke-<br />
ren Proben wird ein transmittiertes Elektron jedoch mit einer gewissen Wahrscheinlichkeit<br />
mehr als einmal inelastisch gestreut. Der Energieverlust <strong>des</strong> Elektrons ist damit die Sum-<br />
me der einzelnen Verluste. Da der Anteil der inelastisch gestreuten Elektronen mit der<br />
Probendicke ansteigt, beinhaltet das EELS-Spektrum Informationen über die Dicke t der<br />
Probe [41]. Sie lässt sich bestimmen über<br />
t = λln( IT<br />
). (26)<br />
I0 ist die Intensität unter dem ” zero - loss peak“, IT ist die Gesamtintensität in dem<br />
Spektrum und mit λ ist die mittlere freie Weglänge 11 bezeichnet. Diese gibt die<br />
durchschnittliche Distanz an, die ein Elektron zwischen zwei Wechselwirkungsprozessen<br />
zurücklegt und ist abhängig von der Zusammensetzung der Probe. Für Streuung bei<br />
TEM Spannungen befinden sich die Werte für λ in einer Größenordnung von einigen<br />
10Beispielsweise beträgt der Energieverlust bei Elektron-Phonon- Streuung lediglich 100meV oder<br />
weniger [39].<br />
11 Der Buchstabe λ ist die konventionelle Bezeichnung für die mittlere freie Weglänge und darf nicht<br />
mit der Wellenlänge verwechselt werden.<br />
I0