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Elektronenmikroskopische Untersuchungen des Polymer/Mineral ...

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3.1 Transmissions-Elektronenmikroskopie 31<br />

3.1.6 Chemische Analytik<br />

In diesem Abschnitt werden einige Methoden behandelt, die eine Untersuchung der che-<br />

mischen Zusammensetzung einer Probe ermöglichen. Ebenso wie Z - Kontrast Untersu-<br />

chungen werden diese Messungen im STEM-Modus durchgeführt.<br />

3.1.6.1 Elektronenenergieverlustanalytik<br />

EELS<br />

Eine Möglichkeit, Informationen über die chemische Zusammensetzung einer Probe zu<br />

erhalten, ist die Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS: electron energy loss spec-<br />

troscopy). Sie liefert die Energieverteilung der Elektronen, die mit der Probe wechsel-<br />

gewirkt haben. Die Signalintensität I wird gegen den Energieverlust E aufgetragen. Das<br />

Spektrum zeigt gewöhnlich einen kontinuierlich abfallenden ” Hintergrund“, der von Spek-<br />

trallinien überlagert wird. Bei E =0eV tritt das höchste Maximum <strong>des</strong> Spektrums auf.<br />

Dieses wird ” zero - loss peak“ genannt und beinhaltet ungestreute Elektronen und Elektro-<br />

nen, die zwar mit der Probe wechselgewirkt haben, jedoch ohne signifikanten Energiever-<br />

lust 10 . Der übrige Teil <strong>des</strong> Spektrums umfasst Elektronen, die einen Energieverlust durch<br />

Interaktion (inelastische Streuung) mit der Probe erfahren haben [39]. Die erscheinenden<br />

Spektrallinien sind charakteristisch für den Auftritt bestimmter inelastischer Streuprozes-<br />

se oberhalb einer Energie E, die zu einer Ionisation innerer Schalen der Atome führen.<br />

Diese Ionisationsenergie ist signifikant für die unterschiedlichen Elemente und gibt daher<br />

Auskunft über die Zusammensetzung der Probe.<br />

In einem EELS-Spektrum, das an einer ausreichend dünnen Probenstelle aufgenommen<br />

wurde, entspricht je<strong>des</strong> spektrale Merkmal einem anderen Anregungsprozess [40]. In dicke-<br />

ren Proben wird ein transmittiertes Elektron jedoch mit einer gewissen Wahrscheinlichkeit<br />

mehr als einmal inelastisch gestreut. Der Energieverlust <strong>des</strong> Elektrons ist damit die Sum-<br />

me der einzelnen Verluste. Da der Anteil der inelastisch gestreuten Elektronen mit der<br />

Probendicke ansteigt, beinhaltet das EELS-Spektrum Informationen über die Dicke t der<br />

Probe [41]. Sie lässt sich bestimmen über<br />

t = λln( IT<br />

). (26)<br />

I0 ist die Intensität unter dem ” zero - loss peak“, IT ist die Gesamtintensität in dem<br />

Spektrum und mit λ ist die mittlere freie Weglänge 11 bezeichnet. Diese gibt die<br />

durchschnittliche Distanz an, die ein Elektron zwischen zwei Wechselwirkungsprozessen<br />

zurücklegt und ist abhängig von der Zusammensetzung der Probe. Für Streuung bei<br />

TEM Spannungen befinden sich die Werte für λ in einer Größenordnung von einigen<br />

10Beispielsweise beträgt der Energieverlust bei Elektron-Phonon- Streuung lediglich 100meV oder<br />

weniger [39].<br />

11 Der Buchstabe λ ist die konventionelle Bezeichnung für die mittlere freie Weglänge und darf nicht<br />

mit der Wellenlänge verwechselt werden.<br />

I0

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