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Volltext - Universität Hamburg

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8. Experimenteller Aufbau zur Bestimmung der Wärmelastgrenzen der Bragg-Reflexion<br />

∆E (meV)<br />

20<br />

10<br />

0<br />

−10<br />

−20<br />

relative Intensitätsstärke<br />

1<br />

0.5<br />

0<br />

−15 −10 −5 0 5 10 15<br />

∆θ (µrad)<br />

0 1 2<br />

∆a 0/a 0 · 10 6<br />

Abbildung 8.12.: Links: DuMond-Diagramm für einen Diamantkristall (blau) C ( 4 4 4 ) bei 12.0697 keV<br />

und zwei Siliziumkristalle Si ( 5 5 5 ) (rot) in ++ Anordnung. Der schwarze Bereich<br />

kennzeichnet die Energien und Winkel für den beide Kristalle gleichzeitig reflektierend<br />

sind. In hellblau ist ein Diamantkristall mit einer modifizierten Gitterkonstanten von<br />

∆a 0/a 0 = 5·10 −7 dargestellt. Die grün umrandete Fläche ist der gemeinsame Energie-<br />

Winkelbereich zwischen dem Siliziumkristall und dem Diamantkristall mit modifizierter<br />

Gitterkonstante. Rechts: Normierte Intensität in Abhängigkeit von der relativen<br />

Änderung der Gitterkonstanten für die Kristallanordnung aus Abb. 8.11 (rechts) in<br />

blau dargestellt und für die Kristallanordnung Abb. 8.12 (links) in rot dargestellt.<br />

reglung auf eine feste Temperatur (∼ 4 mK (rms)) stabilisiert werden. Die Sensitivität des<br />

experimentellen Aufbaus erlaubt es, die temperaturbedingte Änderung der Gitterkonstanten<br />

zu messen. Die Messwerte des Aufbaus, getestet am Strahlfächer C stimmen mit den erwarteten<br />

Werten überein. Bisher wurde mit Siliziumkristallen gemessen. Ein Kristallhalter für<br />

Diamantkristalle wurde bisher nicht für Messungen eingesetzt.<br />

Aufgrund von Lieferverzögerungen des Lasersystems konnten keine abschließenden Messungen<br />

mit dem experimentellen Aufbau durchgeführt werden, um die Wärmelastgrenzen der Bragg-<br />

Reflexion zu bestimmen. Die nächsten Schritte sind die Integration des Lasersystems in den<br />

experimentellen Aufbau sowie Messungen mit einem kryogenisch gekühlten Silizium- und Diamantkristallen.<br />

Um unabhängig von der Divergenz der Eingangsstrahlung zu sein und um den<br />

Einfluss der Undulatorstrahlung auf die Reflexionseigenschaften zu messen, ist eine Erweiterung<br />

des Experiments um einen weiteren Analysatorkristall sinnvoll.<br />

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