Volltext - Universität Hamburg
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8.3. Messmethoden<br />
Intensität (a.u.)<br />
1<br />
0.5<br />
Messung<br />
Simulation<br />
Intensität (a.u.)<br />
1<br />
0.5<br />
0<br />
0<br />
−100 0 100<br />
θ − θ B, Si555 (µrad)<br />
−100 0 100<br />
θ − θ B, Si333 (µrad)<br />
Abbildung 8.13.: Messung der Reflektivität in Abhängigkeit vom Winkel (links) des Probenkristalls<br />
Si ( 5 5 5 ) und (rechts) Analysatorkristall Si ( 3 3 3 ) für eine Photonenenergie von<br />
E Phot = 9.911 keV.<br />
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