Volltext - Universität Hamburg

Abbildungsverzeichnis
6.12. Abhängigkeit der Verstärkung bzgl. Wellenfrontstörungen . . . . . . . . . . . . . 81
7.1. Integrierte abgestrahlte Leistung der spontanen Undulatorstrahlung. . . . . . . . 84
7.2. Temperaturentwicklung eines Diamantkristalls nach Absorption eines Pulszugs. . 85
7.3. Temperaturentwicklung eines Diamantkristalls nach Absorption eines Pulszugs. . 86
7.4. Temperaturverteilung und Temperaturverlauf eines dünnen Kristalls. . . . . . . 90
7.5. Temperaturverteilung und Temperaturverlauf eines dicken Kristalls. . . . . . . . 91
7.6. Temperaturentwicklung hervorgerufen durch Undulatorstrahlung (1 nC). . . . . . 92
7.7. Temperaturentwicklung hervorgerufen durch Undulator- und XFELO-Strahlung. 93
7.8. Temperaturentwicklung hervorgerufen durch Undulatorstrahlung (100 pC). . . . . 94
7.9. Temperaturentwicklung hervorgerufen durch unterschiedliche lange Anregungen. 94
8.1. Absortionlänge von Diamant und Silizium im UV bzw. NIR. . . . . . . . . . . . . 96
8.2. Schematischer Aufbau des Strahlfächers C am DORIS . . . . . . . . . . . . . . . 97
8.3. Schematischer Aufbau des experimentellen Aufbaus mit zwei Kristallen. . . . . . 98
8.4. Schematischer Aufbau des experimentellen Aufbaus . . . . . . . . . . . . . . . . . 99
8.5. CAD-Darstellung des Experiments. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100
8.6. CAD-Ansichten des Aufbaus des kryogenisch gekühlten Kristalls. . . . . . . . . . 102
8.7. Messung der Temperatur des Kristallhalters. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 103
8.8. Schematische Darstellung des Lasersystems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105
8.9. Schematische Darstellung der Laserpulse und Röntgen-Lichtpulse. . . . . . . . . 106
8.10. Darstellung des optischen Wegs zwischen Laser und Kristall . . . . . . . . . . . . 107
8.11. DuMond-Diagramm für Kristallanordung im Experiment. . . . . . . . . . . . . . 109
8.12. Theoretische Signaländerng des Experiments. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 110
8.13. Messung der Winkelabhängigkeit des Experiments für Si ( 5 5 5 ) . . . . . . . . . . 111
A.1. Füllmuster der Elektronenpakete des European XFELs. . . . . . . . . . . . . . . 118
A.2. Schematische Darstellung des Strahlfächers vom European XFEL . . . . . . . . . 120
C.1. Numerische Simulation eines XFELOs langen ERL-typischen Elektronenpulsen. . 127
D.1. Thermische Eigenschaften von Silizium und Diamant. . . . . . . . . . . . . . . . 131
D.2. Änderung der Photonenenergie in Abhängigkeit von Temperaturänderung . . . . 132
D.3. Temperaturverteilung und Temperaturverlauf für Diamant bei T 0 = 300 K. . . . 133
D.4. Temperaturverteilung und Temperaturverlauf für Diamant bei T 0 = 300 K. . . . 134
D.5. Temperaturverteilung und Temperaturverlauf für Diamant bei T 0 = 100 K. . . . 135
D.6. Temperaturverteilung und Temperaturverlauf für Diamant bei T 0 = 75 K. . . . . 136
140