Volltext - Universität Hamburg
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C.1. ERL-typischer Elektronenpuls<br />
10<br />
gespeicherte Energie (J)<br />
10 −6<br />
10 −8<br />
10 −10<br />
10 −12<br />
0 50 100 150 200<br />
() nach # Elektronenpulsen ()<br />
Intensität (GW/cm 2 )<br />
5<br />
0<br />
0 20 40 60<br />
Radius(µm)<br />
(a)<br />
(b)<br />
30<br />
1.5<br />
Leistung (MW)<br />
20<br />
10<br />
Leistung (a.u.)<br />
1<br />
0.5<br />
0<br />
0<br />
−2 0 2<br />
Zeit (ps)<br />
(c)<br />
−20 −10 0 10 20<br />
E − E H (meV)<br />
(d)<br />
Abbildung C.1.: Numerische Simulation eines XFELOs mit einem 1 ps langen ERL-typischen Elektronenpulsen<br />
(Lindberg et al., 2010). (a) Gespeicherte Pulsenergie im Resonator in<br />
Abhängigkeit von der Anzahl des Undulatordurchlaufs. (b) Intensität in Abhängigkeit<br />
vom Radius in der Mitte des Undulators. (c) Gespeicherte Pulsleistung bei Sättigung<br />
in Abhängigkeit der Zeit. (d) Gespeicherte Pulsleistung bei Sättigung in Abhängigkeit<br />
der Frequenz.<br />
Nachteil dieser Elektronenparameter ist, dass der Betriebszustand des European XFELs für<br />
den Betrieb des XFELO stark von dem Betriebszustand des SASE-FEL-Betriebs abweicht. Ein<br />
gleichzeitiger Betrieb von SASE-Modus und XFELO-Modus wäre nicht möglich.<br />
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