Volltext - Fachbereich Physik - Universität Hamburg

5.1. Untersuchungen zur elektronischen Photoionisationsdynamik von
Xenon
E Phot [eV] Xe 1+ Xe 2+ Xe 3+ Xe 4+ Xe 5+ Xe 6+ Xe 7+ Xe 8+
670 [51] 3,5 29 25 30 9 3 0,5 0,1
670,25 1,3 20,6 21,5 35,1 12,9 6,2 1,6 0,9
686 [51] 0,7 5 8,5 42 27 14 2,4 0,3
686,25 0,4 4,9 9,6 41,6 26 14,4 2,6 0,6
700 [51] 0,7 4 7,5 41 29 15 2,5 0,3
700 [48] - 0,7 4,9 43 32 17 2,8 0,3
700,25 0,2 2,8 6,7 41,3 28,9 16,6 3 0,6
853 [51] 1,5 9,1 9,6 33,9 26,2 14,9 3,6 1,1
853,25 0,2 4,4 6,8 34,4 29,3 19,4 4,5 0,9
900 [51] 0,8 7 7 34 28 18 4,2 0,6
900,25 0,2 4,4 6,4 34,1 28,9 19,8 5 1,1
Tab. 5.3: Verzweigungsverhältnisse [%] der Xenon-Ionisation im Vergleich; für die
Messungen von Xe 1+ und Xe 8+ liegt der statistische Fehler unter 0,09 %, bei allen
anderen Messungen unter 0,05 %.
5.1.5 Zusammenfassung zu den Xenon-Untersuchungen
Die wesentlichen Ergebnisse der Xenon-Untersuchungen sollen wegen des Umfangs
an dieser Stelle noch einmal zusammengefasst werden.
Zunächst konnten anhand von PEPICO-Messungen zu jeder Ladungsstufe eigene
Elektronen-ToF-Spektren separiert werden, die sich in Flugzeitserien über größere
Energiebereiche zusammenfassen lassen (s. Abb. 5.2&5.3). Mit dieser Methode
lassen sich Effekte wie z.B. die Verschiebung von Photoelektronenlinien in Abhängigkeit
der Anregungsenergie oder die Verschiebung von Augerelektronenlinien in
Abhängigkeit der Ladungsstufe übersichtlich darstellen. Die derzeit erzielte Energieauflösung
verhindert allerdings eine genauere Analyse.
Als Alternative wurden die zugehörigen PEPECO-Daten untersucht, bei denen
die Elektronenenergien als primäres Auswahlkriterium dienen und erst im Anschluss
daran nach den Ladungsstufen differenziert wird. Mit dieser Methode lassen
sich einige Merkmale wie die Doppelanregung im Signal der Xe 5+ - und Xe 6+ -Ionen
deutlicher darstellen (s. Abb. 5.6). Tatsächlich handelt es sich bei beiden Untersuchungsmethoden
um zwei ähnliche, sich ergänzende Herangehensweisen, bei denen
die PEPICO-Messungen den nötigen Überblick verschaffen, während die PEPECO-
Messungen detailliertere Einblicke in die jeweiligen elektronischen Zerfallskanäle
gewähren.
Außerdem wurde die Effizienzbestimmung des Elektronen-ToF-Spektrometers
nach der in Abschnitt 4.6 verwendeten Methode mit einer Variation des Datenfilters
auf höhere Ladungsstufen erweitert. Dabei muss hingenommen werden, dass
wegen der Totzeitverluste durch die TDCs bei der Messung von mehr als einem Elektron
keine belastbaren Ergebnisse gewonnen werden können. Gleichwohl können an
diesem Verfahren die Möglichkeiten zur Analyse von künftigen Messungen demonstriert
werden, in denen totzeitfreie Messungen durch den Einsatz von ADCs vorge-
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