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Qualification de IONIC, instrument de recombinaison ...

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tel-00010396, version 1 - 4 Oct 2005<br />

5.3. TESTS DE DIFFÉRENTS CONCEPTS INSTRUMENTAUX 3T 143<br />

In1 - P1<br />

Longueur d’on<strong>de</strong> (µm)<br />

Longueur d’on<strong>de</strong> (µm)<br />

In1 - P1<br />

Longueur d’on<strong>de</strong> (µm)<br />

In1 - I13 In1 - I13<br />

Longueur d’on<strong>de</strong> (µm)<br />

Fig. 5.25 – Mesures spectrométriques sur un composant 3T complet. Les ordonnées sont<br />

données en unités arbitraires. L’injection est faite par la voie In1, et la mesure spectrale sur<br />

une voie photométrique (haut) et interférométrique (bas). Les figures <strong>de</strong> gauche montrent<br />

la coupure monomo<strong>de</strong>, celles <strong>de</strong> droite la perturbation du comportement du composant en<br />

régime multimo<strong>de</strong>.<br />

50/50. Le rapport <strong>de</strong> séparation va dépendre <strong>de</strong> la forme du mo<strong>de</strong> en fonction <strong>de</strong> la longueur<br />

d’on<strong>de</strong> à l’arrivée sur la jonction. Ce phénomène peut-être simulé par les logiciels <strong>de</strong> propaga-<br />

tion BPM (Beam Propagation Method) en utilisant <strong>de</strong>s cartes <strong>de</strong> champ multimo<strong>de</strong> à l’entrée<br />

<strong>de</strong> la jonction. Quoiqu’il en soit cela ne correspond pas du tout à la plage <strong>de</strong> fonctionnement<br />

<strong>de</strong> nos composants et il n’y a pas lieu <strong>de</strong> s’inquiéter <strong>de</strong> ce comportement. Pour la mesure sur<br />

la voie interférométrique centrale, les fonctions entrant en compte ici sont <strong>de</strong>ux jonctions Y<br />

directe <strong>de</strong> séparation <strong>de</strong> flux, une jonction Y inverse <strong>de</strong> <strong>recombinaison</strong>, et un croisement.<br />

On voit très bien que les gui<strong>de</strong>s ne sont monomo<strong>de</strong>s qu’à partir <strong>de</strong> 1.45 µm, et non dès 1.43<br />

µm comme le voudrait l’utilisation en ban<strong>de</strong> H. Les gui<strong>de</strong>s restent cependant monomo<strong>de</strong>s sur<br />

la majorité <strong>de</strong> la ban<strong>de</strong>. Les contrastes élevés présentés dans la paragraphe suivant montrent<br />

que l’impact sur les mesures n’est pas vraiment gênant ici. Cependant on a vu plus haut qu’une<br />

propagation multimo<strong>de</strong> peut fortement perturber le comportement <strong>de</strong>s fonctions. Il faut donc<br />

bien sûr éviter d’arriver dans ce régime <strong>de</strong> fonctionnement. Les paramètres technologiques<br />

<strong>de</strong> réalisation avec le même masque peuvent facilement être ajustés pour corriger le léger<br />

écart <strong>de</strong> longueur d’on<strong>de</strong> <strong>de</strong> coupure. Sur le reste <strong>de</strong> la ban<strong>de</strong>, la réponse <strong>de</strong>s fonctions est<br />

relativement plate. Au <strong>de</strong>là <strong>de</strong> 1.65 µm, où on approche <strong>de</strong> la limite <strong>de</strong> mesure <strong>de</strong> l’analyseur<br />

<strong>de</strong> spectre, le comportement dans les <strong>de</strong>ux cas commence à varier : montée <strong>de</strong> la courbe et

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