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Qualification de IONIC, instrument de recombinaison ...

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tel-00010396, version 1 - 4 Oct 2005<br />

5.3. TESTS DE DIFFÉRENTS CONCEPTS INSTRUMENTAUX 3T 149<br />

Tab. 5.12 – Valeur et variations temporelles du contraste d’un recombinateur multi-axial.<br />

donnée par :<br />

Contraste 92 %<br />

Variations temporelles (rms) ± 0,4 %<br />

I(x) = Im(x)(1 + V cos(2kx sin γ + φ)), (5.6)<br />

où x est la coordonnée le long <strong>de</strong> la zone interférométrique,Im(x) est l’enveloppe, V est le<br />

contraste, k = 2π/λ, φ est le déphasage entre les <strong>de</strong>ux bras. En divisant l’interférogramme<br />

par son enveloppe on a donc une sinusoï<strong>de</strong> modulée par le contraste. C’est bien ce que l’on<br />

obtient pour les trois franges centrales <strong>de</strong> la figure 5.29. Dans les ailes <strong>de</strong> la gaussienne le<br />

bruit <strong>de</strong> mesure <strong>de</strong>vient important et la normalisation n’est plus suffisamment précise. De<br />

plus à ce niveau ce sont <strong>de</strong>ux gaussiennes qui se superposent ce dont on ne tient pas compte<br />

ici. Les trois franges centrales sont suffisantes pour calculer le contraste. Il est ici égal à<br />

92% (moyenne sur 32 enregistrements). Comme on ne connaît pas précisément la forme <strong>de</strong><br />

l’enveloppe cela amène un biais dans le calcul <strong>de</strong> V et sa valeur est sous-estimée. Des mesures<br />

<strong>de</strong> V toutes les 15 minutes sur 3h30 ont donné une stabilité à ± 0,4% (rms) du contraste.<br />

5.3.5 Conclusion sur les tests 3T<br />

J’ai présenté ici différentes solutions <strong>de</strong> <strong>recombinaison</strong>s pour trois faisceaux <strong>de</strong> télescopes,<br />

à la fois par échange d’ions argent dans du verre et par gravure <strong>de</strong> silice sur silicium, et à<br />

l’ai<strong>de</strong> <strong>de</strong> plusieurs fonctions <strong>de</strong> <strong>recombinaison</strong>, présentant tous <strong>de</strong> bonnes performances en<br />

matière <strong>de</strong> <strong>recombinaison</strong> interférométrique. Je vais ici surtout plutôt insister sur les points<br />

les plus délicats <strong>de</strong> chacun d’eux.<br />

Les composants réalisés par gravure <strong>de</strong> silice sur silicium permettent à l’ai<strong>de</strong> <strong>de</strong> coupleurs<br />

directionnels <strong>de</strong> choisir le taux <strong>de</strong> couplage voulu afin d’optimiser le flux dans chacune <strong>de</strong>s<br />

voies <strong>de</strong> sorties afin d’obtenir les meilleures performances. Cependant, le travail en large<br />

ban<strong>de</strong> imposé en général par les applications astrophysiques implique un travail important<br />

<strong>de</strong> simulations et <strong>de</strong> test afin d’obtenir <strong>de</strong>s fonctions achromatiques (voir paragraphe 3.3.1).<br />

Le développement <strong>de</strong> ce type <strong>de</strong> fonctions a nécessité la réalisation <strong>de</strong> logiciels <strong>de</strong> simulations<br />

spécifiques afin d’essayer d’anticiper le comportements <strong>de</strong> la fonction vis-à-vis <strong>de</strong> la longueur<br />

d’on<strong>de</strong>. Les résultats <strong>de</strong> mesure obtenus sur les composants réalisés permettent ensuite d’af-<br />

finer les outils <strong>de</strong> simulations. On cherche par ce moyen à pouvoir prédire aussi bien le taux<br />

<strong>de</strong> couplage que l’on obtiendra en fonction <strong>de</strong>s paramètres du coupleur, mais également ses<br />

variations en fonction <strong>de</strong> la longueur d’on<strong>de</strong>. Les composants présentés ici ont donc nécessité<br />

plusieurs itérations successives <strong>de</strong> réalisation et <strong>de</strong>s étu<strong>de</strong>s systématiques pour parvenir à<br />

un composant correspondant au cahier <strong>de</strong>s charges initial. L’expérience acquise maintenant<br />

permettra cependant une définition plus rapi<strong>de</strong> pour <strong>de</strong> futur composants.

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