Qualification de IONIC, instrument de recombinaison ...

tel-00010396, version 1 - 4 Oct 2005
3.4. APPLICATIONS POSSIBLES 65
Fig. 3.23 – Schéma de principe d’un composant OI pour la métrologie de PRIMA (schéma
réalisé par S. Lévêque). Deux longueurs d’ondes centrées autour de 1,3 µm mais légèrement
décalées sont injectées par les entrées AO1 et AO2. Une partie du flux est extraite de chaque
voie. Leur recombinaison donne une référence pour la mesure métrologique. Le reste du flux
est inséré dans chaque voie par des fonctions dichroïques. On est alors dans une partie du
composant commune au flux scientifique et à la métrologie. Après un aller-retour jusqu’aux
télescopes, la partie du flux à 1,3 µm est extraite par les mêmes dichroïques que précédemment
et la recombinaison des deux voies donne un signal qui, après comparaison avec le signal de
référence généré précédemment, permet de déterminer la différence de chemin optique entre
les deux voies. Le flux scientifique est lui guidé vers une fonction de recombinaison qui fournira
deux signaux en opposition de phase, permettant ainsi d’assurer le suivi des franges ou de
réaliser la mesure de la phase de l’objet scientifique.
2,2 µm.
– Le troisième mode est de loin le plus difficile à réaliser technologiquement. Il permet-
tra des mesures astrométriques avec une précision de l’ordre d’une dizaine de micro-
arcsecondes. PRIMA sera alors un instrument à part entière. La précision astrométrique
voulue impose ici la mesure métrologique de la différence de chemin optique entre les
voies de l’interféromètre avec une précision de 5 nm.
PRIMA est donc un ensemble complexe de plusieurs systèmes et l’optique intégrée peut
présenter une solution attractive par la petite taille des composants qui réduira l’encombre-
ment global de l’instrument et par la stabilité instrumentale qu’ils apportent. Les possibi-
lités de l’optique intégrée pour le suivi de franges ont déjà été discutées dans le paragraphe
précédent et elles s’appliquent bien évidemment dans le cas présent. L’optique intégrée peut
aussi être utilisée pour la métrologie. Lévêque (2000) décrit le principe de la métrologie