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Doktorarbeit_Mairoser.pdf - OPUS - Universität Augsburg

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2.3. Charakterisierung dünner Filme<br />

In den Abbildungen 2.14 (b) bis (d) sind typische Interferenzmuster gezeigt, wie sie bei<br />

Reflektometrie-Experimenten mit mindestens zwei Grenzflächen auftreten. Hier wird<br />

auch der Einfluss der Rauigkeit deutlich. So ist ein stärkerer Abfall der Intensität zu<br />

verzeichnen und die Kurvenformen ändern sich.<br />

Reflektometrie-Messungen wurden im Rahmen meiner <strong>Doktorarbeit</strong> zum einen mit<br />

Neutronen mithilfe des Sputtersystems zur in situ Neutronen-Reflektometrie durchgeführt.<br />

Zum anderen wurden auch an EuO-Filmen Röntgen-Reflektometrie-Messungen<br />

getätigt. Für die jeweiligen Auswertungen wurden die Programme Parratt32 [95] und<br />

plot.py [96] genutzt, welche vom Parratt-Algorithmus Gebrauch machen.<br />

Um selbst Reflektometrie-Messungen durchführen zu können, musste zuerst ein Probenhalter<br />

für das am Lehrstuhl vorhandene Philips X’Pert Diffraktometer gebaut werden.<br />

Dieses ist in der vorhandenen Konfiguration nicht für Reflektometrie-Messungen<br />

geeignet, da die Probenhöhe nicht variiert werden kann. Um diese Untersuchungsmethode<br />

trotzdem anwenden zu können, wurde ein Probenhalter aus einem Lineartisch<br />

gebaut, der über einen Gleichstrom-Getriebe-Motor bewegt werden kann (Abbildung<br />

2.15 (a)). Da die Höheneinstellung sehr präzise sein muss, wurde der Motor über<br />

ein zusätzliches Getriebe weiter untersetzt, sodass eine Drehzahl von weniger als 2<br />

Umdrehungen pro Minute bei 12 V erreicht wird. Somit kann über das Einstellen<br />

der Spannung an einem Netzteil die Probe in der Höhe verfahren werden. Durch die<br />

Beobachtung des Primärstrahls bei einem Winkel 2θ = 0 lässt sich die Probenhöhe<br />

so anpassen, dass sich die Intensität halbiert. 16 Im Anschluss kann ω maximiert<br />

werden und erneut die Intensität mithilfe des Motors angepasst werden. Nach iterativen<br />

Wiederholungen ist die Probe justiert, sodass die Reflektivität gemessen werden<br />

kann. Abbildung 2.15 (b) zeigt zwei Reflektometriekurven derselben Probe, wie sie von<br />

Dr. Arthur Glavic am Forschungszentrum Jülich an einem Bruker D8 bzw. mit dem<br />

oben beschriebenen Messaufbau am Philips X’Pert in <strong>Augsburg</strong> gemessen wurden.<br />

Durch die nahezu identischen Messkurven wurde die Funktionalität des Messaufbaus<br />

gezeigt.<br />

2.3.3. SQUID-Magnetometrie<br />

Mit der Superconducting-Quantum-Interference-Device-Magnetometrie (SQUID) lassen<br />

sich sehr kleine magnetische Momente präzise vermessen (Detektion von Bruchteilen<br />

des elementaren Flussquants [97]). Die Methode ist somit geeignet, um die<br />

magnetischen Eigenschaften von sehr dünnen Filmen zu untersuchen. Im Quantum<br />

Design MPMS-5S SQUID-Magnetometer [98] wird das magnetische Moment von zwei<br />

gegenläufig geschalteten Spulen detektiert (sog. Gradiometer), die an einen SQUID<br />

angeschlossen sind. Die in einem Strohhalm fixierte Probe wird durch die beiden<br />

Spulen bewegt, sodass aus der Änderung des magnetischen Flusses das magnetische<br />

Moment bestimmt wird.<br />

16 Durch eine entsprechende feste Blende wird der Strahl so weit eingeschränkt, dass er nur die Probe<br />

beleuchtet.<br />

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