Masterarbeit - Physikzentrum der RWTH Aachen

7.4. Messung mit einer 241 Am-Quelle
systematisch durchgeführt, allersings existieren für einzelne Platinen Messungen. Es
werden keine Daten digital aufgezeichnet, sondern nur Messungen am Oszilloskop
notiert. Die Testplatine ist auf Abb. 7.1 zu sehen.
Abbildung 7.1.: Testplatine an PIN-Dioden-Verstärker.
7.4. Messung mit einer 241 Am-Quelle
7.4.1. Ableitbare Größen
Ladungsverstärkung
Die zweite zur Messung der Ladungsverstärkung Methode besteht darin, mittels einer
241 Am-Quelle Röntgenquanten von 59,5 keV in direkt in die Verarmungszone der
Diode zu bringen. Die werden zum Großteil per Photoeffekt absorbiert und deponieren
dabei ihre gesamte Energie im Halbleitermaterial. Mit Hilfe der Ionisationsenergie
von 3,6 eV lässt sich daraus bequem die applizierte Ladung errechnen. Damit wird
nun analog zu ersten Methode verfahren.
Rauschen der Verstärker
Das Rauschen der Eingänge Q 2 n 5 wird in Einheiten der Ladung auf den Dioden eines
Verstärkers angegeben. Bei bekannter Ladungsverstärkung A Q kann es leicht aus
der Fluktuation eines Verstärkerausgangs berechnet werden. Es bietet sich an, dies
während der Messung mit 241 Am zu tun, da hier bereits das Pedestal gemessen
werden muss. Aus der Breite des Pedestals σ a und der Ladungsverstärkung erhält
man
Q n = σ a
A Q
.
5 engl. equivalent noise charge, Ladungsäquivalent des Rauschens
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