Masterarbeit - Physikzentrum der RWTH Aachen

7.4. Messung mit einer 241 Am-Quelle
Am241 Data
Entries
5000
4000
3000
2000
hSource
Entries 100000
Mean 4.18
RMS 2.598
χ 2
/ ndf
395.9 / 70
p0 4778 ±
22.3
p1 3.389 ±
0.015
p2 2.018 ±
0.011
p3
1.758e+04 ±
7.372e+03
p4 11.87 ±
0.80
p5 2.06 ±
0.19
1000
0
-15 -10 -5 0 5 10 15
Voltage / mV
Abbildung 7.4.: Anpassung der Summe zweier Normalverteilungen an das Spektrum
einer Messung mit 241 Am direkt auf einer PIN-Diode.
Fehler auf A Q . Sämtliche Ergebnisse sieht man in Tabelle 7.1. Die Verteilung der
Kalibrationsfaktoren A Q und der Ladung Q n sieht man in Abb. 7.5. Der Mittelwert
von Q n entspricht dabei einer Ladung von etwa 2300 Elektronen in der PIN-Diode.
Dies liegt etwa einen Faktor 1,7 über dem in Tabelle 6.1 angebenen Wert aus der
NgSpice-Transientenanlyse, wenn man berücksichtigt, dass der dortige Wert nur für
eine Diode gilt, während wird hier immer die Summe zweier Dioden messen, wobei
sich deren zufälliges Rauschen quadratisch addiert.
7.4.5. Zur Messunsicherheit
Im vorangegangenen Abschnitt werden nur die statischen Fehler unter Annahme
sehr einfacher Modelle verwendet. Bei genauer Betrachtung der Spektren mit 241 Am
sieht man, dass das Signal nur näherungsweise einer Normalverteilung folgt. Wertet
man eine Messung Abschnittsweise mit je 1 × 10 4 aufeinanderfolgenden Messpunkten
aus, erhält man 5 Werte für U signal , die deutlich stärker voneinander abweichen,
als man es nach den statistischen Fehlern in Tab. 7.1 erwarten würde, siehe Tab.
7.2. Man sieht hier, dass die Position des Signalmaximums zeitlich nicht stabil ist,
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