Étude des propriétés hydriques et des mécanismes d ... - sacre

Annexes
A : Techniques expérimentales
Annexes
A1 : Microscopie Electronique à Balayage (MEB)
Le microscope électronique à balayage utilisé pour ce travail est un microscope Hitachi S.4500 à
effet de champ. Le détecteur des électrons rétrodiffusés est de type Multi chanel Plate permettant de
travailler à basse tension (1 kV) et à haute tension (36 kV), sa résolution est de quelques nanomètres.
Le détecteur des rayons X est un détecteur SiGe de Oxford Instruments doté d’un système
d’acquisition Link Isis, sa résolution est de 0,136 keV.
Figure A.1 : schéma de principe du MEB
Le principe du microscope électronique à balayage (figure A.1) repose sur le balayage de
l’échantillon par un faisceau d’électrons. L’interaction des électrons avec la matière conduit à
l’émission d’électrons secondaires, de photons X, d’électrons rétrodiffusés, d’électrons Auger. Tous
peuvent permettre la formation d’une image si le microscope est doté d’un détecteur capable de
transformer les électrons ou les photons émis en signal électrique. Ce signal électrique sert à moduler,
après amplification, le faisceau d’un tube image dont le balayage est synchrone avec celui de l’objet ;
l’intensité de ce faisceau est proportionnelle à l’intensité du signal du détecteur donc à l’intensité du
Kévin Beck (2006) 209