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Étude des propriétés hydriques et des mécanismes d ... - sacre

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Chapitre 1 : les formes d’altérations rencontrées<br />

46<br />

Intensité totale de diffraction (%)<br />

100<br />

90<br />

80<br />

70<br />

60<br />

50<br />

40<br />

30<br />

20<br />

10<br />

Diffraction RX sur poudre<br />

0<br />

0 10 20 30 40 50 60 70 80<br />

Profondeur moyenne (mm)<br />

Figure I.49 : variabilité <strong>des</strong> phases majeures d’après les diffractogrammes sur poudre<br />

2.5.2.b. Caractérisation par diffraction <strong>des</strong> rayons X sur massif<br />

Les résultats de diffraction <strong>des</strong> rayons X sur poudre ont montré que la présence de gypse diminuait<br />

fortement sur les dix premiers millimètres. Afin de déterminer de manière plus précise les<br />

modifications minéralogiques dans la zone proche de la surface exposée, une caractérisation <strong>des</strong><br />

phases cristallines par diffraction <strong>des</strong> rayons X a été effectuée sur <strong>des</strong> échantillons massifs. Par c<strong>et</strong>te<br />

technique décrite dans les travaux de Brun<strong>et</strong>-Imbault (1999), l’échantillon peut être analysé sur une<br />

grande zone de l’ordre du centimètre sans être découpé <strong>et</strong> on peut ainsi observer les modifications<br />

minéralogiques dans <strong>des</strong> zones fragiles comme la croûte noire avec <strong>des</strong> pas de quelques dizaines de<br />

micromètres seulement. Pour ce faire, une lamelle de pierre, préalablement indurée avec une résine<br />

époxy, d’environ 500 µm d’épaisseur <strong>et</strong> de 2 cm de long est découpée perpendiculairement à la<br />

surface. Un porte-échantillon spécifique perm<strong>et</strong> d’étudier <strong>des</strong> échantillons massifs avec un<br />

diffractomètre <strong>des</strong> rayons X sur poudre utilisé en transmission (Brun<strong>et</strong>-Imbault, 1998). Le dispositif<br />

expérimental est illustré en figure I.50. Le faisceau de rayons X possède une largeur de 50 µm pour<br />

une hauteur de 3 mm. L’hypothèse faite est que, en considérant l’épaisseur de l’échantillon <strong>et</strong> la taille<br />

moyenne <strong>des</strong> grains de la pierre étudiée, le nombre de cristallites diffractant est suffisant pour<br />

assimiler l’étude par diffraction <strong>des</strong> rayons X d’échantillons massifs de ce type de pierre à la<br />

diffraction de poudre (Brun<strong>et</strong>-Imbault, 1999).<br />

Kévin Beck (2006)<br />

gypse<br />

calcite<br />

quartz

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