Étude des propriétés hydriques et des mécanismes d ... - sacre
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Chapitre 1 : les formes d’altérations rencontrées<br />
46<br />
Intensité totale de diffraction (%)<br />
100<br />
90<br />
80<br />
70<br />
60<br />
50<br />
40<br />
30<br />
20<br />
10<br />
Diffraction RX sur poudre<br />
0<br />
0 10 20 30 40 50 60 70 80<br />
Profondeur moyenne (mm)<br />
Figure I.49 : variabilité <strong>des</strong> phases majeures d’après les diffractogrammes sur poudre<br />
2.5.2.b. Caractérisation par diffraction <strong>des</strong> rayons X sur massif<br />
Les résultats de diffraction <strong>des</strong> rayons X sur poudre ont montré que la présence de gypse diminuait<br />
fortement sur les dix premiers millimètres. Afin de déterminer de manière plus précise les<br />
modifications minéralogiques dans la zone proche de la surface exposée, une caractérisation <strong>des</strong><br />
phases cristallines par diffraction <strong>des</strong> rayons X a été effectuée sur <strong>des</strong> échantillons massifs. Par c<strong>et</strong>te<br />
technique décrite dans les travaux de Brun<strong>et</strong>-Imbault (1999), l’échantillon peut être analysé sur une<br />
grande zone de l’ordre du centimètre sans être découpé <strong>et</strong> on peut ainsi observer les modifications<br />
minéralogiques dans <strong>des</strong> zones fragiles comme la croûte noire avec <strong>des</strong> pas de quelques dizaines de<br />
micromètres seulement. Pour ce faire, une lamelle de pierre, préalablement indurée avec une résine<br />
époxy, d’environ 500 µm d’épaisseur <strong>et</strong> de 2 cm de long est découpée perpendiculairement à la<br />
surface. Un porte-échantillon spécifique perm<strong>et</strong> d’étudier <strong>des</strong> échantillons massifs avec un<br />
diffractomètre <strong>des</strong> rayons X sur poudre utilisé en transmission (Brun<strong>et</strong>-Imbault, 1998). Le dispositif<br />
expérimental est illustré en figure I.50. Le faisceau de rayons X possède une largeur de 50 µm pour<br />
une hauteur de 3 mm. L’hypothèse faite est que, en considérant l’épaisseur de l’échantillon <strong>et</strong> la taille<br />
moyenne <strong>des</strong> grains de la pierre étudiée, le nombre de cristallites diffractant est suffisant pour<br />
assimiler l’étude par diffraction <strong>des</strong> rayons X d’échantillons massifs de ce type de pierre à la<br />
diffraction de poudre (Brun<strong>et</strong>-Imbault, 1999).<br />
Kévin Beck (2006)<br />
gypse<br />
calcite<br />
quartz