Bildgebung mit DEPFET - Prof. Dr. Norbert Wermes - Universität Bonn
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Anhang ARauschen bei einer korreliertenDoppelmessungDas Rauschen des Eingangssignals (z.B. des <strong>DEPFET</strong>-Stromes) eines Verstärkersystemswie z.B. CARLOS kann durch ein paralleles Stromrauschen <strong>mit</strong> der spektralen Rauschleistungsdichte〈i 2 (f)〉 am Eingang des Systems beschrieben werden (Abb. A.1). Abbildung A.1: Ersatzschaltbild für die Berechnung des Rauschens in einem Verstärkerwie CARLOS.Das Rauschen habe nun die allgemeine Form〈i 2 (f)〉 = [ a + bf −α + c f −2] df , (A.1)wobei α zwischen 1 und 2 liegen soll. Speziell für den Fall des <strong>DEPFET</strong>-Detektors entsprichtdie frequenzunabhängige Komponente dem thermischen Rauschen, die Komponente<strong>mit</strong> einer α-Abhängigkeit der Frequenz dem 1/f-Rauschen und die Komponente<strong>mit</strong> einer quadratischen Frequenzabhängigkeit dem Leckstromrauschen, d.h. (s. Kapitel2.3):132
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