Bildgebung mit DEPFET - Prof. Dr. Norbert Wermes - Universität Bonn

4.4. UNTERSUCHUNG DES ZEILENWEISEN LÖSCHMECHANISMUS 73Gelöschte Ladungsmenge in Abhängigkeit von der Dauer des Löschpulses70000gelöschte Ladungsmenge [e - ]60000500004000030000200001000000,1 1 10Dauer des Löschpulses [µs]Abbildung 4.10: Abhängigkeit des Löscheffektes von der Breite des Löschpulses beimLöschen über das Gate.dass ein höherer Spannungspuls am externen Gate zu einem stärkeren Löscheffekt führt.In Abbildung 4.10 ist die mit einem Spannungspuls von U GS = 8V aus einem volleninternen Gate gelöschte Ladungsmenge in Abhängigkeit von der Dauer des Löschpulsesaufgetragen; die Drainspannung betrug U DS = 4V . Es ist zu sehen, dass die gelöschte Ladungsmengemit der Länge des Löschpulses größer wird, wobei die Abhängigkeit sich sehrgut durch eine Logarithmusfunktion annähren lässt. Diese logarithmische Abhängigkeitlässt sich qualitativ verstehen unter der naheliegenden Annahme, dass der LöschstromI Lösch und das Potenzial U int gate des internen Gates (wie bei dem in Kapitel 2.2 beschriebenenPunch-Through-Effekt) exponentiell miteinander zusammenhängen, d.h.I Lösch (t) = dQ(t)dt= −I 0 · e α U int gate(t) , (4.10)wobei α eine hier nicht genauer spezifizierte Konstante ist; außerdem hänge das Potenzialdes internen Gates über eine Kapazität C mit der im internen Gate vorhandenenLadungsmenge Q zusammen:U int gate (t) = Q(t)C(4.11)Die Gleichungen 4.10 und 4.11 sind miteinander gekoppelt und haben eine Lösung derFormQ(t) = Q 0 − C α ln ( αI0C t ), (4.12)was eine logarithmische Abhängigkeit der gelöschten Ladungsmenge von der Löschdauerwie in Abbildung 4.10 beschreibt.