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Oberflächenmodifizierung von Polymethylmethacrylat durch ...

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Kapitel 3: Experimenteller Teil 47<br />

Zusammenhang zwischen der Eindringtiefe der Strahlung in die Probe und der Probentiefe mit<br />

der <strong>durch</strong> Mirabella et al. aufgestellten Beziehung (Gleichung 13) bestätigt werden.<br />

d 3d<br />

S<br />

≈ (13)<br />

Zur Charakterisierung der plasmabehandelten PMMA-Oberflächen wird neben der FTIR-<br />

Spektroskopie in Transmission auch das IRRAS-Verfahren eingesetzt. Für die IR-Analyse in<br />

Transmission wurden Siliziumwafer mit PMMA-Schichten im Spin-Coat-Verfahren angefertigt<br />

(Schichtdicken ≈ 1 µm). Für die IRRAS-Messungen wurden Aluminiumspiegel mit<br />

verschiedenen PMMA-Schichtdicken nach demselben Verfahren hergestellt. Die ATR-<br />

Methode ist prädestiniert für die Untersuchung <strong>von</strong> Grenzflächeneffekten sowie für die<br />

Charakterisierung dünner Schichten und oberflächennaher Bereiche. Aus diesem Grund wird<br />

die ATR-Technik ebenfalls zur Untersuchung der plasmabehandelten PMMA-Oberflächen<br />

eingesetzt.<br />

Verwendete Geräte bzw. Parameter:<br />

FTIR-Spektrometer FT175 der Firma BIO-Rad<br />

Spektralbereich 4000 cm -1 - 500 cm -1<br />

Anzahl der Scans 100<br />

Auflösung 4 cm -1 (für IR-Messung in Transmission und ATR)<br />

8 cm -1 (für IRRAS-Messung)<br />

Reflexionseinrichtung VEEMAX<br />

Einfallswinkel (IRRAS) 70°, p-polarisiertes Licht<br />

ATR-IRE Germaniumkristall (n = 4,0)<br />

Einfallswinkel auf IRE 45°<br />

Detektor (ATR) MCT.<br />

3.3.4 Röntgen-Photoelektronenspektroskopie<br />

Mittels der oberflächenanalytischen Messmethode XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy),<br />

auch bekannt als ESCA (Elektronenspektroskopie zur chemischen Analyse) können einzelne<br />

Atomlagen bezüglich ihrer Elementzusammensetzung und ihres chemischen Zustandes<br />

analysiert werden. Dieses Verfahren liefert Informationen über Art, Menge und<br />

Bindungszustand der vorhandenen Atome bis zu einer Tiefe <strong>von</strong> 5 nm bis 10 nm. Die<br />

Untersuchung <strong>von</strong> Oberflächenreaktionen ist damit um ein Vielfaches sensitiver als die FTIR-<br />

Spektrometrie.<br />

Die Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie (XPS) beruht auf der Wechselwirkung <strong>von</strong><br />

monochromatischer Röntgenstrahlung mit der Materialoberfläche. Die Energie eines<br />

angeregten Photons wird auf ein gebundenes Elektron in einem Atom, Molekül oder<br />

Festkörper übertragen, wo<strong>durch</strong> das Elektron in einen angeregten Zustand übergeht. Ist die<br />

Energie des absorbierten Photons größer als die Bindungsenergie des Elektrons, so nimmt das<br />

Elektron genügend Energie auf, um die Austrittsarbeit zu überwinden und den Festkörper zu<br />

verlassen. Diese Elektronen werden danach energieaufgelöst analysiert. Damit erhält man ein<br />

Röntgenphotoelektronenspektrum, welches die quantitative Elementzusammensetzung der<br />

P

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