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Oberflächenmodifizierung von Polymethylmethacrylat durch ...

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Kapitel 3: Experimenteller Teil 49<br />

Tab. 8: Energiebereiche der Photoelektronenemission einiger in Polymeren vorkommender Elemente<br />

nach [123]<br />

chemisches Element Bindungsenergie [eV]<br />

C 285<br />

O 532<br />

N 400<br />

S 164<br />

Bei höherer Energieauflösung ist die Messung exakter Bindungsenergien möglich. Für die<br />

XPS-Spektrenanalyse <strong>von</strong> Kunststoffoberflächen sind vor allem die unterschiedlichen<br />

Bindungszustände des Kohlenstoffs <strong>von</strong> Bedeutung, d. h. hochaufgelöste Spektren im<br />

Energiebereich <strong>von</strong> etwa 280 eV – 290 eV. Da sich Bindungsenergien teilweise überlagern,<br />

können die dort erhaltenen Intensitätssignale in den meisten Fällen nicht direkt einer<br />

funktionellen Gruppe zugeordnet werden. Somit begrenzt sich die XPS auf eine<br />

Strukturgruppenanalyse. Das bedeutet, dass bestimmte Bindungsenergien immer nur die<br />

gleiche Anzahl an Bindungen der Kohlenstoffspezies mit dem Sauerstoff zugeordnet werden<br />

können. Die (-C–O)-Spezies (z. B. Ether- oder Hydroxylgruppe) sind <strong>durch</strong> Einfachbindung,<br />

die (-C=O)-Spezies (z. B. Carbonylgruppe) <strong>durch</strong> Doppelbindung bzw. zwei<br />

Einfachbindungen und schließlich die (-COO)-Spezies (z. B. Ester- oder Carboxylgruppe)<br />

<strong>durch</strong> eine Einfach- und eine Doppelbindung oder drei Einfachbindungen charakterisiert [125].<br />

Tab. 9: Zuordnung der chemischen Verschiebung der Bindungsenergie des Kohlenstoffs zu dessen<br />

Bindungszustand zu Sauerstoff sowie die daraus resultierenden möglichen funktionellen<br />

Gruppen nach [125]<br />

Verschiebung der<br />

Bindungsenergie [eV]<br />

Bindungszustand des<br />

Kohlenstoffs zum Sauerstoff<br />

mögliche funktionelle Gruppe<br />

285,0 + 1,5 einfach Ether-, Hydroxylgruppe<br />

285,0 + 2,9 doppelt Carbonylgruppe<br />

285,0 + 4,2 dreifach Ester-, Carboxylgruppe<br />

Die in dieser Arbeit verwendeten XPS-Analysen wurden vom Fraunhofer Institut für<br />

Angewandte Polymerforschung (IAP) als Dienstleistung vorgenommen und ausgewertet. Zur<br />

Anregung der untersuchten PMMA-Proben wurde AlKα-Strahlung verwendet, die<br />

Analysetiefe für diese Messungen betrug ≈ 7 nm in einem Oberflächenbereich <strong>von</strong><br />

0,3 mm x 0,7 mm. Es wurden zum einen Übersichtsspektren, zum anderen energetisch<br />

hochaufgelöste Spektren des C1s- und O1s-Peaks aufgenommen. Mit dieser Messmethode<br />

sind Elemente ab einer Kernladungszahl ≥ 3 mit einer Nachweisgrenze <strong>von</strong> ≈ 0,5 at%<br />

detektierbar. Die hochaufgelösten Spektren der 1s-Regionen <strong>von</strong> Sauerstoff und Kohlenstoff<br />

können <strong>durch</strong> Gaußfunktionen angeglichen werden, welche die Atome in einem bestimmten<br />

Bindungszustand repräsentieren.

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