PCT/2000/42 : PCT Gazette, Weekly Issue No. 42, 2000 - WIPO

42/2000
15332 PCT Gazette - Section I - Gazette du PCT 19 Oct/oct 2000
(74) ROSENBERG, Sumner, C. et al. / etc.;
Needle & Rosenberg, P.C., 127 Peachtree
Street, N.E., Suite 1200, Atlanta, GA
30303–1811 (US).
(81) AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR
BY CA CH CN CR CU CZ DE DK DM DZ
EE ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID
IL IN IS JP KE KG KP KR KZ LC LK LR
LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW
MX NO NZ PL PT RO RU SD SE SG SI
SK SL TJ TM TR TT TZ UA UG UZ VN
YU ZA ZW; AP (GH GM KE LS MW SD
SL SZ TZ UG ZW); EA (AM AZ BY KG
KZ MD RU TJ TM); EP (AT BE CH CY
DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL
PT SE); OA (BF BJ CF CG CI CM GA GN
GW ML MR NE SN TD TG).
Published / Publiée :(c)
(51) 7 G01B 7/00, 5/00, 21/00, 1/00
(11) WO 00/62010 (13) A1
(21) PCT/JP00/02220
(22) 6 Apr/avr 2000 (06.04.2000)
(25) ja (26) ja
(30) 11/100559 7 Apr/avr 1999
(07.04.1999)
(43) 19 Oct/oct 2000 (19.10.2000)
(54) POSITION SENSOR AND CONTACT
NEEDLE
CAPTEUR DE POSITION ET AI-
GUILLE DE CONTACT
(71) NISSHIN SANGYO CO., LTD. [JP/JP];
45–2, Otsu, Kitamachi, Kanazawa–shi, Ishikawa
920–0055 (JP).
(for all designated States except / pour tous
les États désignés sauf US)
(72, 75) FUKUHISA, Norio [JP/JP]; 45–2,
Otsu, Kitamachi, Kanazawa–shi, Ishikawa
920–0055 (JP).
(74) NISHI, Takao; 4–16, Daiwamachi, Kanazawa–shi,
Ishikawa 920–0046 (JP).
(81) US; EP (AT BE CH CY DE DK ES FI FR
GB GR IE IT LU MC NL PT SE).
(51) 7 G01B 11/00, 11/02
(11) WO 00/62011 (13) A1
(21) PCT/FI00/00270
(22) 29 Mar/mar 2000 (29.03.2000)
(25) fi (26) en
(30) 990712 30 Mar/mar 1999
(30.03.1999)
(43) 19 Oct/oct 2000 (19.10.2000)
(54) METHOD AND APPARATUS FOR
DETERMINATION OF DIMENSIONS
AND EXTERNAL PROPERTIES OF
THREE–DEMENSIONAL OBJECTS
SUCH AS TIMBER IN A TRANS-
VERSE MEASUREMENT SYSTEM
PROCEDE ET APPAREIL DE DETER-
MINATION DE DIMENSIONS ET DE
PROPRIETES EXTERNES D’OBJETS
TRIDIMENSIONNELS TELS QUE DU
JP
FI
BOIS DANS UN SYSTEME DE ME-
SURE TRANSVERSALE
(71) FIN SCAN OY [FI/FI]; P.O. Box 125,
FIN–02201 Espoo (FI).
(for all designated States except / pour tous
les États désignés sauf US)
(72, 75) MESKANEN, Urpo [FI/FI]; Yökuja 2
A, FIN–02210 Espoo (FI).
(74) SEPPO LAINE OY; Itämerenkatu 3 B,
FIN–00180 Helsinki (FI).
(81) AT AT (Utility model / modèle d’utilité) CA
DE DE (Utility model / modèle d’utilité) SE
US; EP (AT BE CH CY DE DK ES FI FR
GB GR IE IT LU MC NL PT SE).
Published / Publiée :(c)
(51) 7 G01B 11/03, H01L 21/66, H05K 13/08,
G01N 21/88, G06T 7/60
(11) WO 00/62012 (13) A1
(21) PCT/BE00/00020
(22) 1 Mar/mar 2000 (01.03.2000)
(25) en (26) en
(30) 99201121.3 13 Apr/avr 1999 EP
(13.04.1999)
(43) 19 Oct/oct 2000 (19.10.2000)
(54) MEASURING POSITIONS OR COPLA-
NARITY OF CONTACT ELEMENTS
OF AN ELECTRONIC COMPONENT
WITH A FLAT ILLUMINATION AND
TWO CAMERAS
PROCEDE DE MESURE DES POSI-
TIONS OU DE COPLANARITE DES
ELEMENTS DE CONTACT D’UN
COMPOSANTE ELECTRONIQUE A
ECLAIRAGE PLAT ET DEUX CAME-
RAS
(71) ICOS VISION SYSTEMS N.V. [BE/BE];
Research Park Haasrode, Zone 1, Esperantolaan
9, B–3001 Heverlee (BE).
(for all designated States except / pour tous
les États désignés sauf US)
(72, 75) SMETS, Carl [BE/BE]; Konijnenhoekstraat
43, B–3053 Haasrode (BE).
VAN GILS, Karel [BE/BE]; Anemonenlaan
12, B–3052 Blanden (BE). VAN DER
BURGT, Maarten [BE/BE]; Ploegstaart 12,
B–3010 Kessel–Lo (BE).
(74) QUINTELIER, Claude et al. / etc.; Gevers
& Vander Haeghen, Rue de Livourne 7,
B–1060 Brussels (BE).
(81) AE AL AM AT AT (Utility model / modèle
d’utilité)AUAZBABBBGBRBYCACH
CN CR CU CZ CZ (Utility model / modèle
d’utilité) DE DE (Utility model / modèle
d’utilité) DK DK (Utility model / modèle
d’utilité) DM EE EE (Utility model / modèle
d’utilité) ES FI FI (Utility model / modèle
d’utilité) GBGDGEGHGMHRHUIDIL
IN IS JP KE KG KP KR KR (Utility model
/ modèle d’utilité) KZLCLKLRLSLTLU
LV MA MD MG MK MN MW MX NO NZ
PL PT RO RU SD SE SG SI SK SK (Utility
model / modèle d’utilité) SLTJTMTRTT
TZ UA UG US UZ VN YU ZA ZW; AP
(GH GM KE LS MW SD SL SZ TZ UG
ZW); EA (AM AZ BY KG KZ MD RU TJ
TM); EP (AT BE CH CY DE DK ES FI FR
GB GR IE IT LU MC NL PT SE); OA (BF
BJ CF CG CI CM GA GN GW ML MR NE
SN TD TG).
(51) 7 G01B 11/10, G01M 11/00, G01N 21/88
(11) WO 00/62013 (13) A1
(21) PCT/FR00/00889
(22) 7 Apr/avr 2000 (07.04.2000)
(25) fr (26) fr
(30) 99/04553 8 Apr/avr 1999
(08.04.1999)
(43) 19 Oct/oct 2000 (19.10.2000)
FR
(54) DEVICE FOR MEASURING THE DI-
MENSION AND CONTROLLING OF
DEFECTS IN OPTICAL FIBRES DU-
RING PRODUCTION
DISPOSITIF POUR LA MESURE DI-
MENSIONNELLE ET LE CONTRÔLE
DES DEFAUTS DES FIBRES OP-
TIQUES EN PRODUCTION
(71, 72) FARDEAU, Jean–François [FR/FR];
Chemin de Bellepeire, F–13170 Les Pennes
Mirabeau (FR).
(81) CN JP KR US; EP (AT BE CH CY DE DK
ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE).
(51) 7 G01B 11/30, G01N 21/89
(11) WO 00/62014 (13) A1
(21) PCT/SE00/00682
(22) 10 Apr/avr 2000 (10.04.2000)
(25) en (26) en
(30) 9901292–4 12 Apr/avr 1999
(12.04.1999)
(43) 19 Oct/oct 2000 (19.10.2000)
SE
(54) A METHOD AND A DEVICE FOR
CALIBRATING EQUIPMENT FOR DE-
TERMINING THE SURFACE UNIFOR-
MITY OF FILM OR SHEET MATERIAL
PROCEDE ET DISPOSITIF
D’ETALONNAGE DE MATERIEL
POUR LA DETERMINATION DE
L’UNIFORMITE DE LA SURFACE
D’UN MATERIAU EN FILM OU EN
FEUILLE
(71) SEMYRE PHOTONIC SYSTEMS AB
[SE/SE]; Kyrkvägen 7, S–444 31 Stenungsund
(SE).
(for all designated States except / pour tous
les États désignés sauf US)
(72, 75) ÅSEMYR, Göran [SE/SE]; Knastås
2315, S–439 94 Onsala (SE).
(74) HOPFGARTEN, Nils et al. / etc.; L.A.
Groth & Co. KB, P.O. Box 6107, S–102 32
Stockholm (SE).
(81) CA JP NO US; EP (AT BE CH CY DE DK
ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE).
Published / Publiée :(c)
(51) 7 G01B 21/04
(11) WO 00/62015 (13) A1
(21) PCT/GB00/01315
(22) 7 Apr/avr 2000 (07.04.2000)
(25) en (26) en