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Verifikationstest für einen mikromechanischen Shutter im Rahmen ...

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6. Verifikation des Regelungssystems<br />

des <strong>Shutter</strong>s zur Messung vorlag, wird die Messung mit einer ohmschen Last durchgeführt<br />

und die Induktivität der Spule dann s<strong>im</strong>ulationstechnisch realisiert.<br />

A[dB]<br />

20<br />

0<br />

0,001<br />

‐20<br />

0,01 0,1 1 10 100 1000 10000<br />

‐40<br />

‐60<br />

‐80<br />

‐100<br />

Abbildung 6-24: Normierte Amplitudengänge des Stromregelkreises<br />

Phase[deg]<br />

50<br />

0<br />

‐100<br />

‐150<br />

‐200<br />

‐250<br />

‐300<br />

‐350<br />

Frequenz[kHz]<br />

Abbildung 6-25: Phasengang des Stromregelkreises<br />

Stromregelkreis<br />

Stromregelkreis<br />

‐50<br />

0,001 0,01 0,1 1 10 100 1000 10000<br />

Frequenz[kHz]<br />

Hierbei lässt sich jedoch wie bereits in [3] kein integrierendes Verhalten innerhalb des<br />

Frequenzbereichs feststellen, der <strong>für</strong> die äußere Regelschleife von Relevanz ist. Die<br />

Resonanzüberhöhung und Phasendrehung bei ca. 3Mhz resultiert aus dem<br />

Übertragungsverhalten des NMOS-Transistors, dessen Grenzfrequenz an dieser Stelle liegt.<br />

Auffällig bei der Gesamtbetrachtung des Stromregelkreises ist jedoch, dass unter<br />

Berücksichtigung der Induktivitäten bei ca. 8kHz eine Resonanzüberhöhung festzustellen ist<br />

59<br />

Amplitudengang<br />

gemessen ‐ ohne<br />

Induktivität<br />

Amplitudengang<br />

s<strong>im</strong>uliert ‐ ohne<br />

Induktivität<br />

Amplitudengang<br />

s<strong>im</strong>uliert ‐ mit<br />

Induktivität<br />

Phasengang<br />

gemessen ‐ ohne<br />

Induktivität<br />

Phasengang<br />

s<strong>im</strong>uliert ‐ ohne<br />

Induktivität<br />

Phasengang<br />

s<strong>im</strong>uliert ‐ mit<br />

Induktivität

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