21.05.2016 Views

Índice

GuiaMetodologicaQuimica

GuiaMetodologicaQuimica

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

06<br />

Identificación y análisis químico en laboratorio<br />

FLUORESCENCIA DE RAYOS X (XRF)<br />

TÉCNICA INSTRUMENTAL: ANÁLISIS ELEMENTAL<br />

Objetivo<br />

La fluorescencia de rayos X (XRF, X-Ray Fluorescence) es una técnica de análisis químico, rápida, sencilla,<br />

versátil y no destructiva, que permite determinar la concentración de los elementos químicos contenidos<br />

en muestras como rocas, minerales y sedimentos. La relativa facilidad y bajo costo de preparación<br />

de la muestra, sumada a la estabilidad y fácil uso del equipo, convierten a esta técnica en una de las más<br />

utilizadas para el análisis de elementos mayores y trazas en las muestras mencionadas.<br />

Principio de la técnica<br />

La técnica de XRF depende de principios fundamentales que son comunes a varios métodos analíticos,<br />

que implican interacciones entre haces de electrones y rayos X en una muestra, tales como las técnicas<br />

de espectroscopÍa de rayos X y de difracción de rayos X, entre otras.<br />

Al irradiar una muestra con un haz de rayos X, conocido como haz incidente, una parte de la energía se<br />

dispersa y otra parte se absorbe dependiendo de su composición. La muestra a su vez, ahora excitada,<br />

emite rayos X a lo largo de un espectro de longitudes de onda característica de los átomos presentes en<br />

ésta. Estos átomos absorben rayos X expulsando electrones desde capas internas, de niveles de menor<br />

energía. Los electrones expulsados son reemplazados por electrones de capas externas, de niveles de<br />

mayor energía ocurriendo de esta manera una liberación de energía resultando en una emisión de rayos X<br />

característica para cada elemento químico y es, a esta forma de generación de rayos X, a lo que se denomina<br />

fluorescencia de rayos X (XRF).<br />

Aplicación<br />

La finalidad principal es el análisis químico elemental, tanto cualitativo como cuantitativo. En relación al<br />

análisis cuantitativo, esta técnica requiere del uso de patrones de calibración con características similares<br />

a las muestras, tanto en su composición química como física, o bien, de métodos adecuados para<br />

enfrentar los efectos de la matriz. Esta técnica es particularmente apropiada para investigaciones que<br />

involucran análisis químicos de elementos abundantes o mayores (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P) en<br />

rocas y sedimentos, y análisis químicos de elementos traza (en abundancias > 1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr, Cu,<br />

Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn) en roca y sedimentos. Los límites de detección de elementos<br />

traza son típicamente del orden de unas pocas ppm.<br />

Referencias<br />

• Saether, O.M. and De Caritat, P., 1997. Geochemical Processes, Weathering and Groundwater Recharge<br />

in Catchments. Balkema. 400p.<br />

• Skoog, D. A., Holler, F. J. and Stanley, R. C., 2007. Principles of Instrumental Analysis. 6° ed. Belmont,-<br />

Canadá, Brooks/Cole CENGAGE Learning.<br />

195

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!