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Identificación y análisis químico en laboratorio
MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN (TEM)
TÉCNICA INSTRUMENTAL: ANÁLISIS MINERALÓGICO
Objetivo
La microscopía electrónica de transmisión (TEM, Transmission Electron Microscopy) permite caracterizar
un sólido con identificación de fases cristalinas, caracterización de la red cristalina y del tamaño de partícula,
todo esto para una escala de estudio nanométrica y con una mínima cantidad de muestra.
Principio de la técnica
Un equipo TEM consiste en un microscopio que usa un haz de electrones para visualizar un objeto. Este
microscopio se compone de un cañón de electrones, lentes magnéticos, sistema de vacío, placa fotográfica
o pantalla fluorescente y sistema de registro de imágenes. La principal característica de esta técnica es
que puede llegar a realizar la ampliación de la imagen hasta 1.000.000 de veces desde su tamaño original,
lo que conlleva un poder de resolución muy elevado llegando a fracciones de nm. Finalmente, se obtiene
una imagen monocromática y 2D, donde se puede ver la estructura de la muestra.
Para su desarrollo, necesita de una muestra ultrafina para evitar que algunos elementos enmascaren los
detalles finos, debido a la superposición de elementos que se presentan en los diversos planos de profundidad,
ya que la imagen se obtiene de los electrones que atraviesan la muestra. Además, este equipo
suele llevar acoplado un espectrómetro de energía dispersiva de rayos X (EDS, Energy Dispersive Spectrometry).
En el caso de muestras cristalinas se dará lugar a un diagrama de difracción que permite obtener
información sobre la orientación y estructura de los cristales presentes, su identificación y proporción
aproximada de elementos químicos presentes.
Aplicación
Se puede determinar la morfología y cristalografía a escala nanométrica. Se pueden obtener datos sobre
la forma, dimensiones y posición de microcristales o partículas observadas en la muestra, y también
respecto de la cristalografía, la posición de los planos cristalinos, estudio de los defectos, etc; así como
la composición química del material.
Referencias
• Reimer, L., and Kohl, H., 2008.Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation.5 th ed.
New York, Springer Science & Business Media. 587p.
• Skoog, D. A., Holler, F. J., and Stanley, R. C., 2007. Principles of Instrumental Analysis. 6 th ed. Belmont,
Canadá, Brooks/Cole CENGAGE Learning.
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