Índice

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Análisis Identificación y análisis químico en laboratorio
ESPECTROMETRÍA DE EMISIÓN ÓPTICA CON PLASMA DE
ACOPLAMIENTO INDUCTIVO (ICP-OES)
TÉCNICA INSTRUMENTAL: ANÁLISIS ELEMENTAL
Objetivo
La espectrometría de emisión óptica con plasma de acoplamiento inductivo (ICP-OES, Inductively Coupled
Plasma Optical Emission Spectrometry), es una técnica de análisis multielemental. Provee de una rápida y
precisa medición de más de 50 elementos químicos en concentraciones traza.
Principio de la técnica
La técnica de ICP-OES se basa en la medición de la luz emitida por los elementos constituyentes de una
muestra introducida en una fuente de ICP. Las intensidades de emisión medidas son comparadas con
intensidades de estándares de concentración conocida para conocer la concentración elemental en la
muestra en estudio. Una fuente de ICP corresponde a un plasma de argón mantenido por la interacción
de un campo de radio frecuencia y gas argón ionizado. El plasma puede alcanzar temperaturas tan altas
como los 10.000K (9726,850 °C), permitiendo la atomización completa de los elementos en la muestra y
minimizando las potenciales interferencias químicas. El sistema óptico usado en ICP-OES consiste de un
espectrómetro cuya función es la separación de longitudes de onda individuales de luz y enfocar las longitudes
de onda deseadas hacia el detector, ver Figura.
Figura 1. Sistema ICP básico
Aplicación
Mediante esta técnica, se puede determinar cuantitativamente y de forma simultánea, la concentración
de hasta más de 50 elementos químicos, en concentraciones bajas (ppm y ppb), tanto en muestras de tipo
sólido como líquido.
Dentro de sus aplicaciones, una de las más adecuadas y recomendadas es determinar la concentración
de los elementos mayores como el Na, K, Mg y el Ca, los cuales se caracterizan por encontrarse en altas
concentraciones en la mayor parte de las muestras. Esto es debido a que esta técnica es un poco menos
sensible que otras como el ICP-MS (Ficha 08).
Referencias
• Perkin Elmer, 2002.Atomic Spectroscopy - A Guide to Selecting theAppropriate Technique and System.
Perkin Elmer, Inc.
• Skoog, D. A., Holler, F. J. and Stanley, R. C., 2007. Principles of Instrumental Analysis. 6 th ed. Belmont,
Canadá, Brooks/Cole CENGAGE Learning
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