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Facoltà di Ingegneria - Udu Lecce

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Esercitazione<br />

• Prove su materiali e <strong>di</strong>spositivi ed elaborazione dei risultati ore: 5<br />

Progettazione elettronica.Calcoli statistici per le prove <strong>di</strong> vita. Prove elettriche, <strong>di</strong><br />

invecchiamento, ambientali, <strong>di</strong> sicurezza elettrica, prove meccaniche su componenti<br />

elettronici,macchine elettriche rotanti e statiche. Misure speciali.Impiego pratico del<br />

microscopio elettronico a scansione.<br />

Progetto<br />

• Certificazione <strong>di</strong> qualità ore: 5<br />

Il progetto consiste nella pre<strong>di</strong>sposizione <strong>di</strong> un manuale della qualità <strong>di</strong> un processo <strong>di</strong><br />

produzione <strong>di</strong> materiali e <strong>di</strong>spositivi elettronici<br />

Laboratorio<br />

• Misure <strong>di</strong> Affidabilità ore: 5<br />

Le misure verranno effettuate impiegando il ponte <strong>di</strong> wheastone come <strong>di</strong>scriminatore<br />

per la valutazione del grado <strong>di</strong> affidabilità <strong>di</strong> sensori ottici. Il laboratorio prevede altresì<br />

la caratterizzazione dei sistemi elettronici progettati dallo studente.<br />

TESTI CONSIGLIATI<br />

• Zanini A., Elementi <strong>di</strong> affidabilità, Ed. Esculapio, Progetto Leonardo, Bologna, 1991<br />

• Pollino E., Affidabilità dei componenti elettronici a semiconduttore, Ed. SSGRR,<br />

L'Aquila, 1987<br />

• Norme sulla qualità ed affidabilità: UNI EN ISO 9000-1, UNI EN ISO 9004-1, UNI<br />

EN ISO 9001<br />

• Andreini P., Certificare la qualità, E<strong>di</strong>tore Hoepli ,1997<br />

• Nelson W., Accelerated testing, Ed. J. Wiley & Sons, New York, 1990<br />

• Amerasereka E.A., Campbell D.S., Failure Mechanisms in Semiconductor Devices,<br />

J. Wiley & Sons, New York, 1987<br />

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