Steuerbare Gleichrichtung in Halbleiter-Nanostrukturen - Universität ...
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Gate<br />
2.2. Realisierung e<strong>in</strong>es zweidimensionalen Elektronengases<br />
Al Ga As<br />
2DEG<br />
c d s<br />
z < 0 z > 0<br />
0<br />
∆E C<br />
Ga As<br />
1 µm<br />
Fermi-Energie<br />
c = Abschlussschicht<br />
d = Dotierte Schicht<br />
s = Trennschicht<br />
1. Subband<br />
2. Subband<br />
Abbildung 2.2.: Leitungsbandkantenverlauf e<strong>in</strong>es typischen MODFETs. Für die Energie<br />
des Leitungsbandes EC bildet bei z = 0 e<strong>in</strong> M<strong>in</strong>imum aus, <strong>in</strong> dem<br />
das 2DEG entsteht. Die Isolationsschicht s liegt zwischen 2DEG und n-<br />
dotierter AlxGa1−xAs-Schicht d. Schicht c sorgt für e<strong>in</strong>en schützenden Ab-<br />
schluss (Abbildung nach [13]).<br />
mit Beweglichkeiten von über µ = 1000 m2<br />
Vs gerecht werden [8, 11, 12].<br />
Die Heterostruktur e<strong>in</strong>es MODFETs ist mit ihrem Leitungsbandkantenverlauf <strong>in</strong> Abbil-<br />
dung 2.2 schematisch dargestellt. Das 2DEG bildet sich an der Grenzschicht zwischen<br />
GaAs und AlxGa1−xAs bei z = 0 aus. Die Schichtfolge beg<strong>in</strong>nt mit e<strong>in</strong>er dicken GaAs-<br />
Schicht, die durch e<strong>in</strong>e ca. 20 nm starke, undotierte AlxGa1−xAs-Schicht von den Do-<br />
tieratomen getrennt wird 1 . Die isolierende Wirkung ist durch die größere Bandlücke des<br />
AlxGa1−xAs gegenüber dem GaAs gegeben. Die dotierte Schicht kann entweder e<strong>in</strong>e n-<br />
dotierte AlxGa1−xAs-Schicht oder e<strong>in</strong>e 1-2 Monolagen umfassende δ-Dotierung se<strong>in</strong>. Durch<br />
die räumliche Trennung der ionisierten Donatoratome vom 2DEG wird ihr negativer E<strong>in</strong>-<br />
fluss als Streupotentiale unterdrückt und die Elektronen-Beweglichkeit µ nicht bee<strong>in</strong>flusst.<br />
Abgeschlossen wird die Heterostruktur meist mit e<strong>in</strong>er leicht n-dotierten GaAs-Schicht, die<br />
1 Die <strong>in</strong> dieser Arbeit verwendeten Heterostrukturen besitzen e<strong>in</strong>en Alum<strong>in</strong>iumanteil von x = 0,34 − 0,35<br />
[14, 15].<br />
EC<br />
EF<br />
E F<br />
z<br />
EC<br />
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