Steuerbare Gleichrichtung in Halbleiter-Nanostrukturen - Universität ...
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5. Experimentelle Ergebnisse und Diskussion<br />
Schwell-Spannung Schwellwert - Spannung V V (V) (V)<br />
Schwell Schwell<br />
0,1<br />
0,0<br />
-0,1<br />
-0,2<br />
-0,3<br />
-0,4<br />
-0,5<br />
-0,6<br />
-0,7<br />
-0,8<br />
Regressions-Geradengleichung:<br />
V Schwell (V G ) = m V G + n<br />
m = 0,79<br />
n = 0,02 V<br />
-0,9<br />
-1,1 -1,0 -0,9 -0,8 -0,7 -0,6 -0,5 -0,4 -0,3 -0,2 -0,1 0,0 0,1<br />
Seiten Seiten-Gate-Spannung - Gate - Spannung V V(V) (V) G<br />
Abbildung 5.30.: Schwellwert-Spannung VSchwell über Seiten-Gate-Spannungen für VG =<br />
−1 V bis VG = −0 V.<br />
Für e<strong>in</strong>e genauere Betrachtung des Schwellwertverhaltens <strong>in</strong> Abhängigkeit der Seiten-Gate-<br />
Spannung VG dient Abbildung 5.29. Sie zeigt den aufgetragenen Ausgangsstrom ISD für<br />
e<strong>in</strong>e negative Halbwelle. Es s<strong>in</strong>d deutlich die unterschiedlichen Periodenzeitpunkte und<br />
somit die unterschiedlichen Spannungswerte der Öffnung der Diode zu erkennen. Werden<br />
diese Werte mit der zugehörigen E<strong>in</strong>gangsspannung VSD = VSchwell identifiziert, so kann<br />
die Schwell-Spannung VSchwell als Funktion der Seiten-Gate Spannung VG aufgetragen<br />
werden (Abbildung 5.30). Zwischen den Messpunkten besteht <strong>in</strong> guter Näherung mit e<strong>in</strong>er<br />
Unsicherheit von 5 % <strong>in</strong> der Steigung e<strong>in</strong>e l<strong>in</strong>eare Abhängigkeit:<br />
G<br />
VSchwell (VG) = 0,79 · VG + 0,02V. (5.8)<br />
Unter frequenzabhängigen E<strong>in</strong>gangssignalen VSD zeigt der Gleichrichter somit ebenfalls sei-<br />
ne Durchstimmbarkeit für Schwellwerte von VSchwell = −0,78 V bis nahezu VSchwell = 0 V<br />
bei Seiten-Gate-Spannungen zwischen VG = −1,0 V und VG = 0 V.<br />
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