Steuerbare Gleichrichtung in Halbleiter-Nanostrukturen - Universität ...
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5. Experimentelle Ergebnisse und Diskussion<br />
VSD = −2 V) an. Auch der differentielle Widerstand für die Sperrrichtung (Bereich A) hat<br />
sich noch e<strong>in</strong>mal verändert und zwar steigt er auf dRA = 916,4 kΩ (bei VSD = −2 V) im<br />
Vergleich zu dRA = 412,1 kΩ (bei VSD = −1 V), so dass der maximale Strom nur noch<br />
um knapp 5 % auf e<strong>in</strong>en Wert von IA = 20,9 µA zunimmt. Im Gegensatz zum JFET, wo<br />
<strong>in</strong> der Modellvorstellung bei Erreichen des Abschnürpunktes der Strom IK mit steigender<br />
Spannung VK konstant bleibt, zeigt die planare Diode e<strong>in</strong>en leichten Stromanstieg. Dieses<br />
Phänomen kann Leckströmen zugeordnet werden, die zum Beispiel über Störstellen und<br />
Oberflächenzustände an den Ätzkanten fließen können.<br />
Sowohl bei hohen negativen als auch positiven Source-Dra<strong>in</strong>-Spannungen VSD hat sich der<br />
Kanal stärker verschlossen. Das zweifache Abknicken der Kennl<strong>in</strong>ien <strong>in</strong> der eigentlichen<br />
Durchlassrichtung und der daraus resultierende Anstieg des differentiellen Widerstandes<br />
kann mit den bisher erfolgten Messungen nicht erklärt werden. Für e<strong>in</strong>e genauere Interpre-<br />
tation des Kennl<strong>in</strong>ienverlaufs für negative Source-Dra<strong>in</strong>-Spannungen VSD sei auf Abschnitt<br />
5.4 verwiesen, wo die unerwartete Sperrung des Kanals nochmals aufgegriffen und unter<br />
Anderem anhand der planaren Diode mit Seiten-Gates erörtert wird.<br />
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