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Steuerbare Gleichrichtung in Halbleiter-Nanostrukturen - Universität ...

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A.4. Kanäle schreiben<br />

• E<strong>in</strong>legierung der Ohmschen Kontakte: Heizvorgang: unter Schutzgasatmosphä-<br />

re (Schutzgas Arcal 15: 94% Ar und 6% H2)<br />

– 5 m<strong>in</strong> bei 200 ◦ C<br />

– 2 m<strong>in</strong> bei 400 ◦ C<br />

– 30 s bei 450 ◦ C<br />

A.4. Kanäle schreiben<br />

• Probe säubern: Aceton und Isopropanol<br />

• Probe blacken: ZEP-Lack (30 s bei 6000 U/m<strong>in</strong>)<br />

• Probe aushärten: Heizplatte: bei 180 ◦ C für 2 M<strong>in</strong>uten<br />

• Kanäle mit REM schreiben:<br />

– Beschleunigungsspannung: 20 kV<br />

– Blende: 20 µm<br />

– Dosis: 32 µC<br />

• Probe entwickeln:<br />

– Entwickler: 80 s Zep500N<br />

– Stopper: 30 s Isopropanol<br />

• Plasmaätzen: Schonende GaAs-Ätze für 45s bei e<strong>in</strong>er Ätzrate von ca. 150 nm/m<strong>in</strong><br />

– Druck: 2,0 mTorr<br />

– Fluss SiCl4: 4,5 sccm<br />

– Fluss Ar: 4,5 sccm<br />

– Leistung ICP (engl.: <strong>in</strong>ductively coupled plasma): 60 W<br />

– Leistung RF (engl.: radio frequency): 23 W<br />

– Resultierende DC-Bias: ca. 60 V<br />

• Remover: 1165, Aceton, Isopropanol<br />

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