section 1 - World Intellectual Property Organization

44/2002
31 Oct/oct 2002 PCT Gazette - Section I - Gazette du PCT 21865
(for all designated States except / pour tous
les États désignés sauf US)
(72, 75) DOW, Robert [GB/GB]; Parkhaven
Lodge, Woodhall Estate, Calderbank, Airdrie
ML6 8RS (GB). MacIVER, John [GB/GB];
9 Queensland Drive, Cardonald G52 2PA
(GB).
(74) KENNEDYS PATENT AGENCY LIM-
ITED; Floor 5, Queens House, 29 St. Vincent
Place, Glasgow G1 2DT (GB).
(81) AE AG AL AM AT (Utility model / modèle
d’utilité) AU AZ BA BB BG BR BY BZ
CA CH CN CO CR CU CZ (Utility model
/ modèle d’utilité) DE (Utility model /
modèle d’utilité) DK (Utility model / modèle
d’utilité) DM DZ EC EE (Utility model /
modèle d’utilité) ES FI GB GD GE GH GM
HR HU ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ
LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK
MN MW MX MZ NO NZ OM PH PL PT RO
RU SD SE SG SI SK (Utility model / modèle
d’utilité) SL TJ TM TN TR TT TZ UA UG
US UZ VN YU ZA ZM ZW.
(84)AP(GHGMKELSMWMZSDSLSZTZ
UG ZM ZW); EA (AM AZ BY KG KZ MD
RU TJ TM); EP (AT BE CH CY DE DK ES
FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE TR);
OA(BFBJCFCGCICMGAGNGQGW
ML MR NE SN TD TG).
(51) 7 G01R 31/02
(11) WO 02/086520 (13) A1
(21) PCT/JP02/03877
(22) 18 Apr/avr 2002 (18.04.2002)
(25) ja (26) ja
(30) 2001-121554 19 Apr/avr 2001
(19.04.2001)
(30) 2002-115472 17 Apr/avr 2002
(17.04.2002)
(43) 31 Oct/oct 2002 (31.10.2002)
(54) INSPECTION APPARATUS AND IN-
SPECTION METHOD
APPAREIL D’INSPECTION ET PRO-
CEDE D’INSPECTION
(71) OHT INC. [JP/JP]; 1118-1, Aza Nishichujo,
Kannabe-cho, Fukayasu-gun, Hiroshima 720-
2103 (JP).
(for all designated States except / pour tous
les États désignés sauf US)
(72, 75) YAMAOKA, Shuji [JP/JP]; 693-9, Jitoubu,
Seto-cho, Fukuyama-shi, Hiroshima
720-0837 (JP). ISHIOKA, Shogo [JP/JP];
827-3, Oaza Kawaminami, Kannabe-cho,
Fukayasu-gun, Hiroshima 720-2124 (JP).
(81) CN KR US.
(51) 7 G01R 31/02, B60D 1/62
(11) WO 02/086521 (13) A1
(21) PCT/US02/12602
(22) 23 Apr/avr 2002 (23.04.2002)
(25) en (26) en
(30) 09/840,362 23 Apr/avr 2001
(23.04.2001)
JP
JP
US
(43) 31 Oct/oct 2002 (31.10.2002)
(54) TRAILER TETHER SENSOR CIRCUIT
CIRCUIT DE DETECTION D’UN
CABLE D’ATTACHE DE REMORQUE
(71) TRANSCOMMUNICATIONS, INC.
[US/US]; 6125 Preservation Drive, Chattanooga,
TN 37416 (US).
(72) COPPINGER, James; 3721 Kings Road,
Chattanooga, TN 37416 (US). DEBINDER,
Kevin; 151 Pine Tree Lane, Caryville, TN
37714 (US).
(74) CROCKETT, Mark; Luedeka, Neely &
Graham, P.C., P.O. Box 1871, Knoxville, TN
37901 (US).
(81) AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR
BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK
DM DZ EC EE ES FI GB GD GE GH GM
HR HU ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ
LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK
MN MW MX MZ NO NZ OM PH PL PT RO
RU SD SE SG SI SK SL TJ TM TN TR TT
TZ UA UG UZ VN YU ZA ZM ZW.
(84)AP(GHGMKELSMWMZSDSLSZTZ
UG ZM ZW); EA (AM AZ BY KG KZ MD
RU TJ TM); EP (AT BE CH CY DE DK ES
FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE TR);
OA(BFBJCFCGCICMGAGNGQGW
ML MR NE SN TD TG).
Published / Publiée : (c)
(51) 7 G01R 31/08, H04B 10/08, H04J 14/00
(11) WO 02/086522 (13) A1
(21) PCT/US02/12422
(22) 19 Apr/avr 2002 (19.04.2002)
(25) en (26) en
(30) 09/840,296 24 Apr/avr 2001 US
(24.04.2001)
(43) 31 Oct/oct 2002 (31.10.2002)
(54) AN OPTICAL NETWORK ARCHITEC-
TURE WITH REDUCED EQUIPMENT
ARCHITECTURE DE RESEAU OP-
TIQUE AVEC EQUIPEMENT REDUIT
(71) DORSAL NETWORKS, INC. [US/US];
9212 Berger Road, Columbia, MD 21046
(US).
(for all designated States except / pour tous
les États désignés sauf US)
(72, 75) FEINBERG, Lee, Daniel [US/US];
14728 Carona Drive, Silver Spring, MD
20905 (US).
(74) KUMAR, Johnny, A. et al. / etc.; Foley
& Lardner, Washington Harbour, 3000 K
Street, N.W., Suite 500, Washington, DC
20007-5143 (US).
(81) AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR
BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK
DM DZ EC EE ES FI GB GD GE GH GM
HR HU ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ
LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK
MN MW MX MZ NO NZ OM PH PL PT RO
RU SD SE SG SI SK SL TJ TM TN TR TT
TZ UA UG US UZ VN YU ZA ZM ZW.
(84)AP(GHGMKELSMWMZSDSLSZTZ
UG ZM ZW); EA (AM AZ BY KG KZ MD
RU TJ TM); EP (AT BE CH CY DE DK ES
FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE TR);
OA(BFBJCFCGCICMGAGNGQGW
ML MR NE SN TD TG).
(51) 7 G01R 31/28
(11) WO 02/086523 (13) A1
(21) PCT/JP02/03939
(22) 19 Apr/avr 2002 (19.04.2002)
(25) ja (26) ja
(30) 09/839,013 21 Apr/avr 2001
(21.04.2001)
US
(43) 31 Oct/oct 2002 (31.10.2002)
(54) SEQUENCE GENERATION WITH
HIGH-TIME-PRECISION BY USING
GENERAL-PURPOSE OPERATING
SYSTEM IN SEMICONDUCTOR TEST
SYSTEM
GENERATION DE SEQUENCE
A FORTE PRECISION TEMPO-
RELLE FAISANT APPEL A UN SYS-
TEME D’EXPLOITATION GENERAL
DANS UN SYSTEME DE TEST DE
SEMI-CONDUCTEURS
(71) ADVANTEST CORPORATION [JP/JP];
32-1, Asahicho 1-chome, Nerima-ku, Tokyo
179-0071 (JP).
(72) CHEN, Leon, Lee; 3201 Scott Boulevard,
Santa Clara, CA 95054 (US). TURNQUIST,
James, Alan; 3201 Scott Boulevard, Santa
Clara, CA 95054 (US).
(74) WATANABE, Kihei; Daiichi NS Bldg., 5th
Floor, 32, Kanda Suda-cho 1-chome, Chiyoda-ku,
Tokyo 101-0041 (JP).
(81) CN DE JP KR SG.
(51) 7 G01R 33/035
(11) WO 02/086524 (13) A2
(21) PCT/DE02/01268
(22) 6 Apr/avr 2002 (06.04.2002)
(25) de (26) de
(30) 101 19 108.1 19 Apr/avr 2001
(19.04.2001)
DE
(43) 31 Oct/oct 2002 (31.10.2002)
(54) METHOD FOR READING OUT MAG-
NETIC FIELDS WITH A DC SUPER-
CONDUCTING QUANTUM INTER-
FERENCE DEVICE (DC-SQUID) AND
CORRESPONDING DEVICE
PROCEDE POUR EXTRAIRE DES
CHAMPS MAGNETIQUES AU MOYEN
D’UN DETECTEUR SUPRACONDUC-
TEUR A INTERFERENCE QUAN-
TIQUE DC (SQUID DC) ET DISPOSITIF
ASSOCIE
(71) FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH
GMBH [DE/DE]; Wilhelm-Johnen-Strasse,
52425 Jülich (DE).
(for all designated States except / pour tous
les États désignés sauf US)
(72, 75) ZHANG, Yi [DE/DE]; Nordstrasse 36,
52428 Jülich (DE). OTTO, Ralph [DE/BE];
Schnellenberg 12, B-4721 Kelmis (BE).
WOLTERS, Norbert [NL/DE]; Katharinenstrasse
8, 52134 Herzogenrath (DE).
(74) FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH
GMBH; Recht und Patente - Patente, 52425
Jülich (DE).
(81) JP US.
(84)EP(ATBECHCYDEDKESFIFRGBGR
IE IT LU MC NL PT SE TR).
(51) 7 G01R 33/20
(11) WO 02/086525 (13) A2
(21) PCT/US02/12286
(22) 19 Apr/avr 2002 (19.04.2002)