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Untersuchungen zur - OPUS - Universität Würzburg

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MATERIALIEN UND METHODEN<br />

Oberfläche der Partikel aus Charge II glatter zu sein. Fü r die Zugspannungsmessungen wurde<br />

ausschließlich Charge I verwendet, für zusätzliche <strong>Untersuchungen</strong> m ithilfe des<br />

Rasterelektronenmikroskops wurde Charge II herangezogen.<br />

Abb. 4.4: REM-Aufnahme vo n DATEM E 47 2 e;<br />

Charge I (Vergrößerung bei Aufnahme: 1000x)<br />

Abb. 4.6: REM-Aufnahme vo n DATEM E 47 2 e;<br />

Charge I (Vergrößerung bei Aufnahme: 10000x)<br />

Abb. 4.5: REM-Aufnahme vo n DATEM E 47 2 e;<br />

Charge II (Vergrößerung bei Aufnahme: 1000x)<br />

Abb. 4.7: REM-Aufnahme vo n DATEM E 47 2 e;<br />

Charge II (Vergrößerung bei Aufnahme: 10000x)<br />

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