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Untersuchungen zur - OPUS - Universität Würzburg

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4.2 Methoden<br />

4.2.1 COULTER ® LS 230<br />

MATERIALIEN UND METHODEN<br />

Die Partikelgrößenverteilung de r Maisstärke wird mittels Laserdiffraktometrie am<br />

COULTER ® LS 230 (COULTER Electronics GmbH, Krefeld) bestimmt. Die Messung erfolgt<br />

im Flüssigkeitsm odul, wobei 99% iges (V/V) Isopropanol als Suspensionsm ittel verwendet<br />

wird. Die dispergierte Probe f ließt in einem dünne n Flüssigkeitsfilm durch eine<br />

Beugungsmesszelle, welche im rechten W inkel zu einem gebündelten Lase rstrahl steht. Der<br />

Laserstrahl wird von den durchström enden Partikeln in Abhängigkeit von ihrer Größe<br />

unterschiedlich stark gebeugt. Kl eine Partikel beugen das Laserl icht mit niedriger Intensität<br />

bei hohen Messwinkeln, wohingegen größere Partikel den Laserstrahl mit hoher Intensität bei<br />

kleinen Messwinkeln beugen. Über das charakteristische Beugungsmuster können wiederum<br />

Rückschlüsse auf die Partikelgrößenverteilung gezogen werden.<br />

Die Messung von Partikeln im Fraunhofer-Bereich (0,4 - 2000 µm) erfolgt mit Laserlicht der<br />

Wellenlänge 750 nm. Um einen gebündelten S trahl zu erzeugen wird de r Laser durch einen<br />

Filter und Projektionslinsen geleitet. Das g ebeugte L icht wird m ithilfe eines Fourier-<br />

Linsensystems gesammelt und auf ein Detektorsystem fokussiert, welches aus 126 ringförmig<br />

angeordneten Fotodiode ndetektoren besteht [ 121]. Die Detektoren registrieren den<br />

Beugungswinkel und die Intensität des Laserlichts, wobei die Korngröße umgekehrt<br />

proportional zum Beugungswinkel ist. Die Lichtintensität ist ein Maß für die Me nge der<br />

Partikel. A us dem durch Überlagerung ve rschiedener Beugungsmuster resultierenden<br />

Interferenzmuster errechnet eine Software die Partikelgrößenverteilung.<br />

Da sich sehr kleine Partikel nur schwer anhand ihres Beugu ngswinkels unterscheiden lassen,<br />

wird <strong>zur</strong> Erfassung der Teilchengrößen im Mi e-Bereich (0,04 – 1 µm) zusätzlich das<br />

sogenannte PIDS-Verfahren (Polarisation Intensify Differential Scattering) angewandt. Diese<br />

Technik basiert auf der Abhängi gkeit der Intensität des Streul ichts von der Polarisation des<br />

einfallenden Lichts. Diese Polarisationsabh ängigkeit ist bei kleinen Teilchen wesentlich<br />

größer als bei größeren Teilchen, wodurch eine verbesserte Auflösung im Bereich kleiner<br />

Partikelgrößen erzielt w erden kann [ 122]. Die PIDS-Anordnung besteht aus einer Kaltlicht-<br />

Wolfram-Halogenlampe und drei Sets vertikal und horizontal angeordneter Polarisationsfilter,<br />

welche polarisiertes m onochromatisches Licht mit den Wellenlängen 450 nm (blau), 600 nm<br />

(orange) und 900 nm ( nahe dem Infrarot) erzeugen. Durch einen Schlitz wird das Licht zu<br />

einem engen Strahl gebündelt, der durch die P IDS-Probenzelle gesendet wird. Fotodetektoren<br />

registrieren die Streulichtintensität senkrecht <strong>zur</strong> Ausbreitungsrichtung des Lichtes.

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