Untersuchungen zur - OPUS - Universität Würzburg
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4.2 Methoden<br />
4.2.1 COULTER ® LS 230<br />
MATERIALIEN UND METHODEN<br />
Die Partikelgrößenverteilung de r Maisstärke wird mittels Laserdiffraktometrie am<br />
COULTER ® LS 230 (COULTER Electronics GmbH, Krefeld) bestimmt. Die Messung erfolgt<br />
im Flüssigkeitsm odul, wobei 99% iges (V/V) Isopropanol als Suspensionsm ittel verwendet<br />
wird. Die dispergierte Probe f ließt in einem dünne n Flüssigkeitsfilm durch eine<br />
Beugungsmesszelle, welche im rechten W inkel zu einem gebündelten Lase rstrahl steht. Der<br />
Laserstrahl wird von den durchström enden Partikeln in Abhängigkeit von ihrer Größe<br />
unterschiedlich stark gebeugt. Kl eine Partikel beugen das Laserl icht mit niedriger Intensität<br />
bei hohen Messwinkeln, wohingegen größere Partikel den Laserstrahl mit hoher Intensität bei<br />
kleinen Messwinkeln beugen. Über das charakteristische Beugungsmuster können wiederum<br />
Rückschlüsse auf die Partikelgrößenverteilung gezogen werden.<br />
Die Messung von Partikeln im Fraunhofer-Bereich (0,4 - 2000 µm) erfolgt mit Laserlicht der<br />
Wellenlänge 750 nm. Um einen gebündelten S trahl zu erzeugen wird de r Laser durch einen<br />
Filter und Projektionslinsen geleitet. Das g ebeugte L icht wird m ithilfe eines Fourier-<br />
Linsensystems gesammelt und auf ein Detektorsystem fokussiert, welches aus 126 ringförmig<br />
angeordneten Fotodiode ndetektoren besteht [ 121]. Die Detektoren registrieren den<br />
Beugungswinkel und die Intensität des Laserlichts, wobei die Korngröße umgekehrt<br />
proportional zum Beugungswinkel ist. Die Lichtintensität ist ein Maß für die Me nge der<br />
Partikel. A us dem durch Überlagerung ve rschiedener Beugungsmuster resultierenden<br />
Interferenzmuster errechnet eine Software die Partikelgrößenverteilung.<br />
Da sich sehr kleine Partikel nur schwer anhand ihres Beugu ngswinkels unterscheiden lassen,<br />
wird <strong>zur</strong> Erfassung der Teilchengrößen im Mi e-Bereich (0,04 – 1 µm) zusätzlich das<br />
sogenannte PIDS-Verfahren (Polarisation Intensify Differential Scattering) angewandt. Diese<br />
Technik basiert auf der Abhängi gkeit der Intensität des Streul ichts von der Polarisation des<br />
einfallenden Lichts. Diese Polarisationsabh ängigkeit ist bei kleinen Teilchen wesentlich<br />
größer als bei größeren Teilchen, wodurch eine verbesserte Auflösung im Bereich kleiner<br />
Partikelgrößen erzielt w erden kann [ 122]. Die PIDS-Anordnung besteht aus einer Kaltlicht-<br />
Wolfram-Halogenlampe und drei Sets vertikal und horizontal angeordneter Polarisationsfilter,<br />
welche polarisiertes m onochromatisches Licht mit den Wellenlängen 450 nm (blau), 600 nm<br />
(orange) und 900 nm ( nahe dem Infrarot) erzeugen. Durch einen Schlitz wird das Licht zu<br />
einem engen Strahl gebündelt, der durch die P IDS-Probenzelle gesendet wird. Fotodetektoren<br />
registrieren die Streulichtintensität senkrecht <strong>zur</strong> Ausbreitungsrichtung des Lichtes.