Untersuchungen zur - OPUS - Universität Würzburg

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I INHALTSVERZEICHNIS 1 EINLEITUNG UND ZIELSETZUNG 1 2 THEORIE UND STAND DER FORSCHUNG 2 2.1 Schüttgüter - Definition und charakteristische Eigenschaften 2 2.2 Fließfähigkeit von Schüttgütern 5 2.3 Interpartikuläre Haftkräfte in Schüttgütern 7 2.3.1 Van-der-Waals-Kräfte 9 2.3.2 Elektrostatische Kräfte 12 2.3.3 Flüssigkeitsbrücken 14 2.4 Methoden <strong>zur</strong> Charakterisierung von Fließeigenschaften 16 2.5 Einfluss von Oberflächenrauigkeiten auf interpartikuläre Haftkräfte 23 2.5.1 Rauigkeitsmodelle 23 2.5.2 Fließregulierungsmittel 30 2.6 Herstellung nanostrukturierter Materialien 38 2.6.1 Hochdisperses Siliciumdioxid 38 2.6.2 Pigmentruß 40 3 ARBEITSHYPOTHESE 41 4 MATERIALIEN UND METHODEN 43 4.1 Materialien 43 4.1.1 Schüttgüter 43 4.1.2 Nanostrukturierte Materialien 46 4.2 Methoden 50 ® 4.2.1 COULTER LS 230 50 4.2.2 Siebturm Retsch AS 200 Control 51 ® 4.2.3 Feuchtigkeitswaage Moisture Analyzer HR73 51 ® 4.2.4 Herstellung der binären Pulvermischungen 52 4.2.5 Zugspannungstester 54 4.2.6 Rasterelektronenmikroskop Zeiss DSM 962 58 4.2.7 Bildanalysesystem KS 300 58 © 4.2.8 Transmissionselektronenmikroskop (TEM-Kryoschnitte) 58
INHALTSVERZEICHNIS 5 ERGEBNISSE UND DISKUSSION 59 5.1 Charakterisierung der Trägermaterialien 59 5.1.1 Partikelgrößenbestimmung 59 5.1.2 Bestimmung des Agglomerationsverhaltens mittels Siebturm 61 5.1.3 Thermogravimetrische Feuchtebestimmung 63 5.1.4 Zugspannungswerte 64 5.2 Einfluss der Mischintensität auf den Zugspannungsverlauf 66 5.2.1 Zugspannungswerte 67 5.2.2 Oberflächenbelegung und Zugspannung 77 5.3 Wiederanstieg der Zugspannung 90 5.4 Einfluss der Konzentration des Fließregulierungsmittels 95 5.5 Fließregulierung weicher Materialien 98 5.5.1 Zugspannungswerte 98 5.5.2 Oberflächenstruktur 10 2 6 ZUSAMMENFASSENDE DISKUSSION 110 7 SUMMARY 115 8 ANHANG 119 8.1 Berechnung der Haftkraftminima 11 9 8.2 Oberflächenbelegung der Trägerpartikel 12 0 8.2.1 Durch ein Fließregulierungsmittel maximal belegbare Oberfläche 12 0 8.2.2 Belegung von Maisstärke 12 1 8.2.3 Belegung von DATEM (Charge I) 12 2 8.3 Rohdaten 123 8.3.1 Zugspannungsmessungen 12 3 8.3.2 Oberflächenbelegung 12 8 9 LITERATURVERZEICHNIS 133 II
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46 4.1.2 Nanostrukturierte Material
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48 4.1.2.3 SIPERNAT ® 22S 100 nm A
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76 Zugspannung [Pa] 50 40 30 20 10
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78 20 UpM Abb. 5.24: Maisst./AEROSI
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88 AEROSIL ® 200 Abb. 5. 57: Maiss
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100 Die grob strukturie rte Silica
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102 5.5.2 Oberflächenstruktur Abb.
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110 ZUSAMMENFASSENDE DISKUSSION 6 Z
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112 ZUSAMMENFASSENDE DISKUSSION int
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114 ZUSAMMENFASSENDE DISKUSSION ste
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118 SUMMARY At a further increase i
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120 ANHANG 8.2 Oberflächenbelegung
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126 ANHANG 0,2 % SIPERNAT ® 50S, 2
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134 LITERATURVERZEICHNIS [26] SCHUB
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136 LITERATURVERZEICHNIS [67] GABAU
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138 LITERATURVERZEICHNIS [102] ETTL
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