Spektromikroskopische Untersuchungen an ... - OPUS Würzburg

120 6 SMART-Messungen an NTCDA
0,018
- m / E (s -1 eV -1 )
0,014
0,010
0,006
0,002
1 3 5 7 9 11 13
Elektronenenergie (eV)
Abbildung 6.30: Darstellung der Schädigung in Abhängigkeit von der Elektronenenergie.
Aufgetragen ist die durch die Elektronenenergie geteilte Steigung der Kurven aus Abbildung 6.29
gegen die Elektronenenergie.
Elektronenenergien zeigt sich, dass eine stärkere, energieabhängige Schädigung
einsetzt. Im untersuchten Elektronenenergiebereich von 4 eV bis 13 eV nimmt diese
kontinuierlich zu. Dies steht in Einklang mit Untersuchungen, die bezüglich der
Schädigung von Biomolekülen durch niederenergetische Elektronen durchgeführt
wurden [92, 93]. Dort zeigte sich unterhalb von etwa 4 eV ein konstanter, darüber
bis etwa 14 eV ein linear ansteigender Schädigungsquerschnitt, der im Wesentlichen
π → π ∗ -Anregungen zugeschrieben wird.
Für das System NTCDA/Ag(111) sieht der zeitliche Verlauf der Schädigung durch
die Elektronen sicherlich etwas anders aus – dennoch kann man aufgrund dieser
Messungen davon ausgehen, dass es sich für beide Systeme im Energiebereich
4 eV– 13 eV um einen eher kontinuierlichen Übergang handelt: je höher die Elektronenenergie
gewählt wird, desto schneller nimmt die Intensität mit der Zeit ab
und desto schneller wird die Probe geschädigt.
Zusammenfassend muss gesagt werden, dass für NTCDA auch die Untersuchungen
mit dem Elektronenstrahl (LEEM, LEED) als sehr kritisch anzusehen sind: ständige
Kontrolle auf Strahlenschäden und möglicherweise dadurch entstandene Artefakte
ist auch hier vonnöten.