Spektromikroskopische Untersuchungen an ... - OPUS Würzburg
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70 5 SMART-Messungen <strong>an</strong> PTCDA<br />
2 µm<br />
a<br />
b<br />
c<br />
c<br />
b<br />
a<br />
LEEM<br />
2,0 eV 284,6 eV<br />
286,0 eV 288,0 eV<br />
p-Polarisation<br />
Normierte Intensität (w.E.)<br />
c<br />
b<br />
a<br />
*<br />
*<br />
C K-NEXAFS<br />
p-Polarisation<br />
c<br />
b<br />
a<br />
*<br />
*<br />
*<br />
C K-NEXAFS<br />
s-Polarisation<br />
283 285 287 289 291<br />
Photonenenergie (eV)<br />
283 285 287 289 291<br />
Photonenenergie (eV)<br />
283,0 eV<br />
284,6 eV<br />
a<br />
c<br />
b<br />
286,0 eV 288,0 eV<br />
s-Polarisation<br />
Abbildung 5.17: NEXAFS-Spektren sowie LEEM/X-PEEM-Bilder von 7 ML PTCDA auf<br />
Au(111), adsorbiert bei 350 K. Oben links LEEM, rechts davon X-PEEM in p-Polarisation, unten<br />
in s-Polaristion (jeweils skaliert auf optimalen Kontrast; da die X-PEEM-Bilder für 283,0 eV<br />
in beiden Polarisationen den gleichen Kontrast zeigen, wurde eines zugunsten des LEEM-<br />
Bildes weggelassen). In der Mitte flächenselektive NEXAFS-Spektren: (a) Multilage, (b) Bilage,<br />
(c) durch Elektronenexposition geschädigter Bereich. Die mit einem Stern gekennzeichneten<br />
Strukturen sind Normierungsartefakte oder durch solche überlagerte Reson<strong>an</strong>zen.
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